[发明专利]检测器模块和辐射成像设备无效

专利信息
申请号: 201210110091.5 申请日: 2012-04-05
公开(公告)号: CN102727226A 公开(公告)日: 2012-10-17
发明(设计)人: 吉田大;森武正浩;别所浩治 申请(专利权)人: GE医疗系统环球技术有限公司
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00;A61B6/03
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 张金金;朱海煜
地址: 美国威*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 检测器 模块 辐射 成像 设备
【权利要求书】:

1.一种辐射成像设备,其包括:

具有设置在其中的多个检测器模块的辐射检测器,检测器模块每个包括多个辐射检测元件,

其中所述检测器模块中的每个具有温度传感器,并且

其中所述辐射成像设备包括:

用于在所述辐射成像设备外在检测器模块单元中从存储部件采集所述辐射检测元件的灵敏度的温度特性信息的采集部件,所述存储部件预先存储温度特性信息;以及

用于基于由所述温度传感器提供的温度信息和由所述采集部件采集的所述温度特性信息校正由所述辐射检测元件检测的数据的校正部件。

2.如权利要求1所述的辐射成像设备,其中所述存储部件提供在所述检测器模块的每个中。

3.如权利要求1所述的辐射成像设备,其包括读取单元,

其中所述存储部件是能够由所述读取单元读取的存储介质。

4.如权利要求1所述的辐射成像设备,其中所述存储部件通过网络连接到所述辐射成像设备。

5.如权利要求1至4中任一项所述的辐射成像设备,

其中所述温度特性信息包括所述检测器模块的典型温度特性信息,并且

其中所述校正部件基于所述检测器模块的典型温度特性信息分别校正由配置所述检测器模块的个体辐射检测元件检测的数据。

6.如权利要求1至4中任一项所述的辐射成像设备,

其中当配置所述检测器模块的所述辐射检测元件被分成多个组时所述温度特性信息包括每组的典型温度特性信息,并且

其中所述校正部件基于所述组的典型温度特性信息校正由位于相同组中的辐射检测元件检测的数据。

7.如权利要求1至4中任一项所述的辐射成像设备,

其中所述温度特性信息包括配置每个所述检测器模块的每个辐射检测元件的温度特性信息,并且

其中所述校正部件基于所述辐射检测元件的温度特性信息校正由所述辐射检测元件检测的数据。

8.如权利要求1至7中任一项所述的辐射成像设备,其中当所述检测器模块用新的检测器模块代替时,所述校正部件采集对应于所述新的检测器模块的温度特性信息。

9.如权利要求1至8中任一项所述的辐射成像设备,其中所述校正部件基于在对水或空气成像时由所述温度传感器提供的温度信息以及在对要捕捉的受检者成像时由所述温度传感器提供的温度信息进行所述校正。

10.如权利要求1至9中任一项所述的辐射成像设备,

其中所述辐射检测元件包括闪烁体和光电二极管,并且

其中所述温度特性信息包括涉及所述光电二极管的输出的温度特性的信息。

11.如权利要求10所述的辐射成像设备,其中所述温度特性信息包括涉及所述闪烁体的输出的温度特性的信息。

12.如权利要求1至9中任一项所述的辐射成像设备,

其中所述辐射检测元件中的每个包括闪烁体、光电二极管和电路,所述电路接收所述光电二极管的输出作为输入,并且

其中所述温度特性信息包括涉及所述电路的输出的温度特性的信息。

13.如权利要求1至12中任一项所述的辐射成像设备,其中所述温度特性信息包括指示增益和/或偏移中关于所述温度的变化的信息。

14.如权利要求1至12中任一项所述的辐射成像设备,其中所述温度特性信息包括用于所检测的数据的校正的校正运算方程和/或校正系数。

15.如权利要求1至14中任一项所述的辐射成像设备,其中所述温度传感器设置在与每个所述检测器模块的辐射入射侧相对的侧上。

16.如权利要求1至15中任一项所述的辐射成像设备,其中所述温度传感器是铂温度传感器。

17.如权利要求1至16中任一项所述的辐射成像设备,其进行X射线CT成像。

18.一种检测器模块,其包括:

多个辐射检测元件;

温度传感器;和

用于存储所述辐射检测元件的灵敏度的温度特性信息的存储部件。

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