[发明专利]X射线成像方法无效
申请号: | 201210108922.5 | 申请日: | 2012-04-13 |
公开(公告)号: | CN102626318A | 公开(公告)日: | 2012-08-08 |
发明(设计)人: | 蒋昌辉;夏丹;张成祥;戎军艳;张其阳;郑海荣 | 申请(专利权)人: | 中国科学院深圳先进技术研究院 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 吴平 |
地址: | 518055 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射线 成像 方法 | ||
1.一种X射线成像方法,其特征在于,包括以下步骤:
采集被测物体信息,建立被测物体尺寸模型;
根据所述被测物体尺寸模型调节X射线光束,对所述被测物体进行扫描,得到被测物体的扫描信息;
对所述扫描信息进行重建得到重建图像。
2.根据权利要求1所述的X射线成像方法,其特征在于,所述采集被测物体信息,建立被测物体尺寸模型的步骤包括:
通过至少两个不同角度分别对所述被测物体进行预扫描,得到所述被测物体的预扫描信息;
根据所述预扫描信息建立被测物体尺寸模型。
3.根据权利要求2所述的X射线成像方法,其特征在于,所述通过至少两个不同角度分别对所述被测物体进行预扫描的步骤具体为:
通过两个不同角度分别对所述被测物体进行预扫描,两个不同角度之间的夹角大于等于90度小于180度。
4.根据权利要求1所述的X射线成像方法,其特征在于,所述采集被测物体信息,建立被测物体尺寸模型的步骤包括:
确定所述被测物体的分类,得到被测物体的类型;
根据所述被测物体的类型获取同一类物体的通用尺寸模型;
根据所述同一类物体的通用尺寸模型得到被测物体尺寸模型。
5.根据权利要求1所述的X射线成像方法,其特征在于,所述根据所述被测物体尺寸模型调节X射线光束,对被测物体进行扫描,得到被测物体的扫描信息的步骤包括:
根据所述被测物体尺寸模型确定所述被测物体的局部区域的尺寸和中心位置;
将X射线扫描中心点定位在所述被测物体的局部区域的中心位置上;
以所述扫描中心点为中心旋转,并根据所述局部区域的尺寸实时调节X射线光束,对所述局部区域进行旋转扫描,得到所述被测物体的局部扫描信息。
6.根据权利要求1所述的X射线成像方法,其特征在于,所述根据所述被测物体尺寸模型调节X射线光束,对所述被测物体进行扫描,得到被测物体的扫描信息的步骤包括:
根据所述被测物体尺寸模型确定所述被测物体的基准线;
调整扫描角度,并将X射线扫描中心点始终定位在基准线上,同时根据被测物体的尺寸模型调节X射线光束,对所述被测物体进行多角度的扫描,得到被测物体的扫描信息。
7.根据权利要求6所述的X射线成像方法,其特征在于,所述对所述被测物体进行多角度的扫描的方式,得到被测物体的扫描信息具体为:
对所述被测物体进行多角度脉冲式扫描,得到各角度的被测物体的扫描信息。
8.根据权利要求6所述的X射线成像方法,其特征在于,所述对所述被测物体进行多角度的扫描的方式具体为:
对所述被测物体进行多角度连续扫描,得到多角度连续的被测物体的扫描信息。
9.根据权利要求1所述的X射线成像方法,其特征在于,所述对所述扫描信息进行重建得到重建图像的步骤具体为:
对所述扫描信息进行重建得到被测物体的二维图像,对所述二维图像进行三维重建得到被测物体的三维图像。
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