[发明专利]一种氮掺杂二氧化锡薄膜的制备方法无效

专利信息
申请号: 201210103874.0 申请日: 2012-04-05
公开(公告)号: CN102644055A 公开(公告)日: 2012-08-22
发明(设计)人: 方峰;蒋建清;张旭海;丁啸雄 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/06;H01B5/14;H01B13/00
代理公司: 南京天翼专利代理有限责任公司 32112 代理人: 汤志武
地址: 210096*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 掺杂 氧化 薄膜 制备 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及透明导电薄膜的制备,特别涉及一种氮(N)掺杂二氧化锡薄膜的制备方法。

背景技术

同时具备透明和导电特性的材料-透明导电氧化物(Transparent Conducting Oxides,简称TCO)薄膜,被广泛应用于各种便携式电子产品(如笔记本电脑、手机等)、太阳能电池等行业中。具有应用价值的透明导电膜,一般认为电阻率应达到10-3Ω·cm数量级,可见光透射率应大于80%。

经过多年的研究,以ZnO、In2O3和SnO2为代表的TCO薄膜得到了实际应用。掺锡In2O3薄膜(ITO)电阻率介于10-3~10-4Ω·cm,可见光透射率达85%以上,是目前应用最成功的TCO薄膜;铝掺杂ZnO薄膜(AZO)是氧化锌系薄膜的代表,其电阻率可低至6.24×10-4Ω·cm,可见光透射率大于80%。目前得到应用的SnO2:Sb薄膜,电阻率为9×10-4Ω·cm,可见光透射率达80%以上。

现有透明导电薄膜中,ITO薄膜虽然性能优良,但由于In元素是稀散金属元素,资源稀少,价格昂贵且有毒,可能造成环境污染;ZnO系薄膜的稳定性不佳,限制了其进一步推广应用;与ZnO相比,SnO2具有高的化学稳定性、耐环境腐蚀,对应用于光伏组件、有高温或环境腐蚀条件下,具有独特的优势。目前得到应用的掺杂SnO2薄膜,掺杂元素主要为Sb、F、Cl、As等。尽管F和Sb掺杂SnO2薄膜具有较好的性能,但F、Sb、Cl等元素具有毒性,污染环境且制造成本较高。

发明内容

为了解决现有技术存在的掺杂SnO2薄膜污染环境、制造成本高的缺点,本发明提供了一种氮掺杂二氧化锡薄膜的制备方法,可以获得透明导电薄膜。

一种氮掺杂二氧化锡薄膜的制备方法,以磁控溅射法制备二氧化锡薄膜,磁控溅射时,按体积比O2∶N2=(1~6)∶(99~94)的比例通入O2和N2的混合气体,控制溅射室内气压≤5Pa。

入射功率为100~150W,溅射气压1~3Pa。

溅射速率为8~15nm/min,时间为10~30min。

磁控溅射时先以O2和N2混合气体对衬底进行5~30min的预溅射,并调节衬底加热温度100~400℃,然后再在衬底上沉积氮掺杂二氧化锡薄膜,厚度为100~300nm。

得到氮掺杂二氧化锡薄膜后进行退火,退火温度为300~700℃,退火时间为20~60min,最后得到透明导电的氮掺杂二氧化锡薄膜。

有益效果:

本发明的优点是:(1)本发明采用反应磁控溅射法制备出氮掺杂SnO2薄膜,制取工艺简单易控制,是目前工业化生产薄膜的基本工艺方法;(2)氮元素来源广泛,成本低,反应产物无毒,对环境无污染;(3)通过对工艺参数的控制,获得的透明导电薄膜,电阻率低于2.4×10-3Ω·cm、可见光透射率大于80%,达到了商用透明导电薄膜的性能要求。

附图说明

图1为采用XPS分析的未掺杂和N掺杂SnO2薄膜的成分图。

从图中可以看到,N掺杂SnO2薄膜中存在明显的N1s峰,而未掺杂SnO2薄膜中不存在N1s峰。说明N掺杂进入了SnO2薄膜中。

具体实施方式

本发明所述的氮(N)掺杂二氧化锡薄膜的制备主要是通过磁控溅射制备二氧化锡薄膜,溅射时通入氧气和氮气的混合气体,控制参数以得到,主要包括以下几个步骤:

A.清洗衬底材料,用氮气吹干后装入样品台,安装在磁控溅射仪溅射室内;

B.将真空室抽真空6×10-4Pa以下,按一定体积比(O∶N=(1~6)∶(99~94))通入O2(纯度99.99%)和N2(纯度99.99%)的混合气体,控制溅射室内气压在5Pa左右;

C.打开射频电源和灯丝开关起辉,控制入射功率约100~150W,溅射气压约1~3Pa;

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