[发明专利]基于平面度测量的平面刮研方法

权利要求书

1.一种基于平面度测量的平面刮研方法，其特征在于：所述刮研方法包括以下步骤：

（1）获取待刮研面的多个点的坐标，并将所述多个点的横坐标和纵坐标分别记录在矩阵A、矩阵B中；

（2）在能够对所述矩阵A、矩阵B进行数据处理并能够进行数据拟合的可视化软件中输入矩阵A、矩阵B,并对矩阵A、矩阵B进行归一化处理；

（3）拟合所述待刮研面的基准面，并计算所述待刮研面的平面度；

（4）判断所述待刮研面的平面度是否满足要求，若满足，刮研结束，若不满足，则继续下述步骤：

（a）拟合所述待刮研面，并输出所述待刮研面和所述待刮研面的基准面的图形；

（b）输出所述待刮研面上高于所述待刮研面的基准面的需刮研区域；

（c）采用刮研用平板对所述需刮研区域进行刮研；

（d）返回步骤（1）。

2.根据权利要求1所述的基于平面度测量的平面刮研方法，其特征在于：所述步骤（1）中，所述多个点由网格法获取。

3.根据权利要求1所述的基于平面度测量的平面刮研方法，其特征在于：所述步骤（2）中，所述可视化软件为MATLAB软件。