[发明专利]不良记录元件检测装置及方法、图像形成装置及方法、程序有效

专利信息
申请号: 201210088824.X 申请日: 2012-03-29
公开(公告)号: CN102729664A 公开(公告)日: 2012-10-17
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 富士胶片株式会社
主分类号: B41J29/393 分类号: B41J29/393
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 何立波;张天舒
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 不良 记录 元件 检测 装置 方法 图像 形成 程序
【权利要求书】:

1.一种不良记录元件的检测装置,其具有:

读取图像信号获取单元,其使记录介质相对于排列有多个记录元件而成的记录头相对移动,获取通过上述记录元件记录在上述记录介质上的测试图案的读取图像信号;以及

信号处理单元,其进行下述处理,即,解析上述读取图像信号,从上述多个记录元件中确定不良记录元件,

其特征在于,

上述测试图案包含使下述记录元件动作而记录的线状图案,上述记录元件,与使上述记录头的上述多个记录元件投影在与上述相对移动方向正交的第1方向平行的直线上时的投影记录元件的排列中,以一定检测间距数PP的间隔选择的上述投影记录元件相对应,

在使在上述第1方向排列的上述各个投影元件的间隔为记录像素间距WP,使上述读取图像数据的上述第1方向的像素尺寸为读取像素间距WS,作为解析上述读取图像信号时的解析单位,使在上述第1方向连续排列的多个读取像素的组为解析间距数PS时,通过

T=WP×PP÷|WS×PS-WP×PP|

求出的周期T,以上述读取图像信号的像素为单位,该周期T大于或等于3,

上述信号处理单元具有:

分解单元,其对于上述获取的读取图像信号,在对沿上述第1方向排列的各个像素按照其排列顺序以连续的整数标记读取像素编号时,根据将该读取像素编号除以上述解析间距数PS后的余数的值,将上述读取图像信号的像素列分解为上述余数不同的多个序列,生成每个序列的图像信号;

预测信号生成单元,其根据上述读取图像信号,计算对上述各个序列预测的规则预测信号;

阈值确定单元,其根据上述预测信号求出与记录位置误差的检测距离条件相当的灰度值差,根据该灰度值差,确定与判定记录位置误差较大的条件相当的阈值;

变化信号计算单元,其计算表示上述各个序列的图像信号与上述预测信号的差的变化信号;以及

不良记录元件判定单元,其根据上述变化信号与上述阈值的比较,从上述记录头中的上述多个记录元件中确定不良记录元件。

2.如权利要求1所述的不良记录元件的检测装置,其特征在于,

上述预测信号生成单元,根据被分解为上述各个序列的图像信号,生成表示各个序列的平均特性的平均属性,根据该平均属性生成上述预测信号。

3.如权利要求1或2所述的不良记录元件的检测装置,其特征在于,

上述阈值确定单元使上述预测信号的1个周期与上述线状图案的一条直线属性相对应,从而确定上述阈值。

4.如权利要求1至3中任意一项记载的不良记录元件的检测装置,其特征在于,

上述读取像素间距WS与上述记录像素间距WP相比较大。

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