[发明专利]一种发光二极管及其制造方法无效

专利信息
申请号: 201210088308.7 申请日: 2012-03-29
公开(公告)号: CN103367559A 公开(公告)日: 2013-10-23
发明(设计)人: 郝茂盛;张楠 申请(专利权)人: 上海蓝光科技有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/38
代理公司: 上海光华专利事务所 31219 代理人: 李仪萍
地址: 201210 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 发光二极管 及其 制造 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于半导体领域,特别是涉及一种发光二极管及其制造方法。

背景技术

半导体照明作为新型高效固体光源,具有寿命长、节能、环保、安全等显著优点,将成为人类照明史上继白炽灯、荧光灯之后的又一次飞跃,其应用领域正在迅速扩大,正带动传统照明、显示等行业的升级换代,其经济效益和社会效益巨大。正因如此,半导体照明被普遍看作是21世纪最具发展前景的新兴产业之一,也是未来几年光电子领域最重要的制高点之一。发光二极管是由III-IV族化合物,如GaAs(砷化镓)、GaP(磷化镓)、GaAsP(磷砷化镓)等半导体制成的,其核心是PN结。因此它具有一般P-N结的I-N特性,即正向导通,反向截止、击穿特性。此外,在一定条件下,它还具有发光特性。在正向电压下,电子由N区注入P区,空穴由P区注入N区。进入对方区域的少数载流子(少子)一部分与多数载流子(多子)复合而发光。

LED的寿命及发光效率问题是目前研究的热点。LED光谱的衰退现象是引起LED寿命缩短的重要原因,因而LED光谱的衰退现象能够明显影响到LED产品的性能。引起光谱的衰退的原因有几个方面,一个方面是由于高的外加电流应力导致的LED内部结温的增加,发光区域非辐射复合中心的增加,造成光谱的衰退;第二个方面是由于P-N结过多的热量致使荧光粉转化效率降低的结果,从而引起LED光谱的衰退。

现有的LED均将透明导电层直接制作于P-GaN层上,并使其形成欧姆接触,然而,这样的结构容易由于接触不均匀而使在LED发光区域的电流密度有较大的差异,由于不均匀的外加电流应力导致的LED内部某些区域的结温的过高,发光区域非辐射复合中心的增加,容易造成LED光谱的衰退,并且由于电流密度的不均匀,也影响了LED发光效率的提高。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点,本发明的目的在于提供一种发光二极管及其制造方法,用于解决现有技术中由于电流密度不均匀而导致LED发光效率降低,且容易引起LED衰退现象产生的问题。

为实现上述目的及其他相关目的,本发明提供一种发光二极管的制造方法,至少包括步骤:

1)提供一半导体衬底,并在所述半导体衬底上形成至少包括N-GaN层、量子阱层及P-GaN层的发光外延结构;

2)在所述P-GaN层上制作具有按预设图形排列的孔洞的图形导电薄膜,且使所述图形导电薄膜与所述P-GaN层形成非欧姆接触;

3)在所述图形导电薄膜及孔洞上制作透明导电层,并使所述透明导电层通过所述孔洞与所述P-GaN层形成欧姆接触;

4)制作P电极及N电极以完成所述发光二极管的制造。

作为本发明的发光二极管的制造方法的一种可选方案,所述图形导电薄膜的材料为N-GaN、u-GaN或绝缘材料与透明导电材料所形成的复合材料。

优选地,所述绝缘材料为SiO2或Si3N4,所述透明导电材料为ITO、ATO、FTO或AZO。

在本发明的发光二极管的制造方法中,所述图形导电薄膜可透过波长范围为400~600nm的可见光。

作为本发明的发光二极管的制造方法的一种可选方案,所述预设图形排列的孔洞为按矩形阵列排列的孔洞。

作为本发明的发光二极管的制造方法的一种可选方案,所述预设图形排列的孔洞为具有多排纵向排列的孔洞,且相邻的两排孔洞位错排列。

优选地,所述孔洞的形状为圆形、椭圆形、矩形、多边形或圆角多边形。

在本发明的发光二极管的制造方法所述步骤2)中,先在所述P-GaN层上沉积一层导电薄膜,然后制备光刻图形并对所述导电薄膜进行刻蚀,以形成所述图形导电薄膜。

在本发明的发光二极管的制造方法所述步骤4)中,刻蚀所述透明导电层、图形导电薄膜、P-GaN层及量子阱层以获得一裸露的N-GaN平台,然后在所述N-GaN平台上制备N电极,然后在所述透明导电层上制备P电极。

在本发明的发光二极管的制造方法中,所述半导体衬底为蓝宝石衬底或蓝宝石图形衬底。

本发明还提供一种发光二极管,至少包括:

发光外延结构,包括N-GaN层、结合于所述N-GaN层的量子阱层及结合于所述量子阱层的P-GaN层,其中,所述N-GaN层与P-GaN层呈台阶结构,所述N-GaN层上具有N电极;

图形导电薄膜,结合于所述P-GaN层且具有按预设图形排列的孔洞,其中,所述图形导电薄膜与所述P-GaN层形成非欧姆接触;

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