[发明专利]一种发光二极管及其制造方法无效
| 申请号: | 201210088308.7 | 申请日: | 2012-03-29 | 
| 公开(公告)号: | CN103367559A | 公开(公告)日: | 2013-10-23 | 
| 发明(设计)人: | 郝茂盛;张楠 | 申请(专利权)人: | 上海蓝光科技有限公司 | 
| 主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/38 | 
| 代理公司: | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人: | 李仪萍 | 
| 地址: | 201210 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 发光二极管 及其 制造 方法 | ||
1.一种发光二极管的制造方法,其特征在于,至少包括步骤:
1)提供一半导体衬底,并在所述半导体衬底上形成至少包括N-GaN层、量子阱层及P-GaN层的发光外延结构;
2)在所述P-GaN层上制作具有按预设图形排列的孔洞的图形导电薄膜,且使所述图形导电薄膜与所述P-GaN层形成非欧姆接触;
3)在所述图形导电薄膜及孔洞上制作透明导电层,并使所述透明导电层通过所述孔洞与所述P-GaN层形成欧姆接触;
4)制作P电极及N电极以完成所述发光二极管的制造。
2.根据权利要求1所述的发光二极管的制造方法,其特征在于:所述图形导电薄膜的材料为N-GaN、u-GaN、或绝缘材料与透明导电材料所形成的复合材料。
3.根据权利要求2所述的发光二极管的制造方法,其特征在于:所述绝缘材料为SiO2或Si3N4,所述透明导电材料为ITO、ATO、FTO或AZO。
4.根据权利要求1所述的发光二极管的制造方法,其特征在于:所述图形导电薄膜可透过波长范围为400~600nm的可见光。
5.根据权利要求1~4任意一项所述的发光二极管的制造方法,其特征在于:所述预设图形排列的孔洞为按矩形阵列排列的孔洞。
6.根据权利要求1~4任意一项所述的发光二极管的制造方法,其特征在于:所述预设图形排列的孔洞为具有多排纵向排列的孔洞,且相邻的两排孔洞位错排列。
7.根据权利要求1~4任意一项所述的发光二极管的制造方法,其特征在于:所述孔洞的形状为圆形、椭圆形、矩形、多边形或圆角多边形。
8.根据权利要求1所述的发光二极管的制造方法,其特征在于:所述步骤2)中,先在所述P-GaN层上沉积一层导电薄膜,然后制备光刻图形并对所述导电薄膜进行刻蚀,以形成所述图形导电薄膜。
9.根据权利要求1所述的发光二极管的制造方法,其特征在于:所述步骤4)中,刻蚀所述透明导电层、图形导电薄膜、P-GaN层及量子阱层以获得一裸露的N-GaN平台,然后在所述N-GaN平台上制备N电极,然后在所述透明导电层上制备P电极。
10.根据权利要求1所述的发光二极管的制造方法,其特征在于:所述半导体衬底为蓝宝石衬底或蓝宝石图形衬底。
11.一种发光二极管,其特征在于,至少包括:
发光外延结构,包括N-GaN层、结合于所述N-GaN层的量子阱层及结合于所述量子阱层的P-GaN层,其中,所述N-GaN层与P-GaN层呈台阶结构,所述N-GaN层上具有N电极;
图形导电薄膜,结合于所述P-GaN层且具有按预设图形排列的孔洞,其中,所述图形导电薄膜与所述P-GaN层形成非欧姆接触;
透明导电层,结合于所述图形导电薄膜及所述孔洞,且通过所述孔洞与所述P-GaN层形成欧姆接触,其中,所述透明导电层上具有P电极。
12.根据权利要求11所述的发光二极管,其特征在于:所述图形导电薄膜的材料为N-GaN、u-GaN或绝缘材料与透明导电材料所形成的复合材料。
13.根据权利要求12所述的发光二极管,其特征在于:所述绝缘材料为SiO2或Si3N4,所述透明导电材料为ITO、ATO、FTO或AZO。
14.根据权利要求11所述的发光二极管,其特征在于:所述图形导电薄膜可透过波长范围为400~600nm的可见光。
15.根据权利要求11~14任意一项所述的发光二极管,其特征在于:所述预设图形排列的孔洞为按矩形阵列排列的孔洞。
16.根据权利要求11~14任意一项所述的发光二极管,其特征在于:所述预设图形排列的孔洞为具有多排纵向排列的孔洞,且相邻的两排孔洞位错排列。
17.根据权利要求11~14任意一项所述的发光二极管,其特征在于:所述孔洞的形状为圆形、椭圆形、矩形、多边形或圆角多边形。
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