[发明专利]一种集成电路封装及其组装方法有效
| 申请号: | 201210082855.4 | 申请日: | 2012-03-26 |
| 公开(公告)号: | CN102709202A | 公开(公告)日: | 2012-10-03 |
| 发明(设计)人: | 爱德华·洛沃;雷泽尔·R·卡恩;埃德蒙·洛沃 | 申请(专利权)人: | 美国博通公司 |
| 主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;H01L21/56;H01L23/488;H01L23/31 |
| 代理公司: | 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 | 代理人: | 蔡晓红;王小青 |
| 地址: | 美国加州尔湾市奥尔顿公*** | 国省代码: | 美国;US |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 集成电路 封装 及其 组装 方法 | ||
1.一种集成电路封装的组装方法,其特征在于,所述方法包括:
形成包括多个基板的基板面板,每一个所述基板包括布线;
分割所述基板面板,以分离成所述多个基板;
将所分离的基板的至少子集连接在载体的表面;
将一个或多个晶片贴装在所述载体上的每一个所述基板上;
在所述载体上使用模塑料对所述晶片和所述基板进行封装;
从所封装的晶片和基板中拆卸所述载体,以形成模塑组装,所述模塑组装包括用于封装所述晶片和基板的所述模塑料;
将多个互连连接在所述模塑组装的表面上的每一个所述基板;及
分割所述模塑组装,以形成多个集成电路封装,每一个集成电路封装包括至少一个所述晶片和基板。
2.根据权利要求1所述的集成电路封装的组装方法,其特征在于,所述方法进一步包括:
使用柱塞对在所述基板面板中的所述基板进行电镀,以形成用于将所述晶片贴装在所述基板的导电触点。
3.根据权利要求1所述的集成电路封装的组装方法,其特征在于,所述形成包括多个基板、、且每个基板包括布线的基板面板包括:
形成所述基板面板来包含阵列中的所述基板,除了围绕所述阵列的所述基板面板的周边边缘区域之外,所述阵列填满所述基板面板。
4.根据权利要求1所述的集成电路封装的组装方法,其特征在于,所述将所分离的基板的至少一个子集连接在载体的表面包括:
对所分离的基板进行定位,使其在所述载体的所述表面上间隔地分开。
5.根据权利要求4所述的集成电路封装的组装方法,其特征在于,所述在所述载体上使用模塑料对所述晶片和所述基板进行封装包括:
填充在所分离的基板与所述模塑料之间的空间。
6.根据权利要求5所述的集成电路封装的组装方法,其特征在于,所述分割所述模塑组装,以形成多个集成电路封装包括:
分割所述模塑组装,使得每一个集成电路封装包括围绕所包含的基板的外部边缘的模塑料的周边环。
7.一种集成电路封装的组装方法,其特征在于,所述方法包括:
接收多个分离的基板;
将所述基板连接在载体的表面;
将一个或多个晶片贴装在所述载体上的每一个所述基板;
在所述载体上使用模塑料对所述晶片和所述基板进行封装;
从所封装的晶片和基板中拆卸所述载体,以形成模塑组装,所述模塑组装包括用于封装所述晶片和基板的所述模塑料;
将多个互连连接在所述模塑组装的表面上的每一个所述基板;及
分割所述模塑组装,以形成多个集成电路封装,每一个集成电路封装包括至少一个所述晶片和基板。
8.根据权利要求7所述的集成电路封装的组装方法,其特征在于,所述将所述基板连接在载体的表面包括:
对所述基板进行定位,使其在所述载体的所述表面上间隔地分开。
9.根据权利要求8所述的集成电路封装的组装方法,其特征在于,所述在所述载体上使用模塑料对所述晶片和所述基板进行封装包括:
填充位于带有所述模塑料的所述基板之间的空间。
10.一种集成电路封装,其特征在于,所述集成电路封装包括:
基板,其含有相对的第一和第二表面;
晶片,其贴装在所述基板的所述第一表面;及
模塑料,用于封装所述基板的第一表面上的所述晶片,且形成围绕所述基板的外部边缘的周边环。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于美国博通公司,未经美国博通公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210082855.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:OCT硬质膀胱镜系统
- 下一篇:一种定位方法、定位引擎和物流信息管理系统
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





