[发明专利]一种高功率激光光束取样器及高功率激光光束测量系统

权利要求书

1.一种高功率激光光束取样器，其特征在于：包括多根光纤和多个沿激光入射方向平行且层叠排布的介质平板；所述相邻介质平板间设置有多个并行排布的带圆弧过渡的L形凹槽；所述多根光纤分别设置在相应的L形凹槽内；所述光纤包括入射端和输出端，其入射端迎着激光入射方向，其输出端与取样器外部的探测器相连；所述光纤为去除涂敷层的裸光纤；所述的介质平板和光纤对激光高透射。

2.根据权利要求1所述的高功率激光光束取样器，其特征在于：所述的L形凹槽横截面为V形或U型，所述光纤在L形凹槽内的高度不低于L形凹槽上沿，所述光纤被相邻的介质平板压紧固定在L形凹槽内。

3.根据权利要求1所述的高功率激光光束取样器，其特征在于：所述的L形凹槽横截面为V形或U型，所述光纤在L形凹槽内的高度低于L形凹槽上沿，所述光纤的输出端固定在L形凹槽的边沿上或介质平板的侧面上。

4.根据权利要求1或2或3所述的高功率激光光束取样器，其特征在于：所述的L形凹槽在介质平板工作面上为等间距排列。

5.根据权利要求4所述的高功率激光光束取样器，其特征在于：所述光纤端面机械切割或抛光为整齐端面，所述光纤入射端外伸介质平板边沿的长度为1-5mm。

6.根据权利要求5所述的高功率激光光束取样器，其特征在于：所述的介质平板的六个面和L形凹槽内表面抛光处理为光洁面。

7.根据权利要求6所述的高功率激光光束取样器，其特征在于：所述的光纤为大数值孔径光纤。

8.根据权利要求7所述的高功率激光光束取样器，其特征在于：所述的介质平板材料为石英、硅或碳化硅；所述的光纤为石英光纤、红外光纤或紫外光纤。

9.一种应用权利要求1所述高功率激光光束取样器的高功率激光光束测量系统，其特征在于：包括高功率激光光束取样器和光衰减及探测单元；所述光衰减及探测单元包括多个探测器、信号处理电路和数据采集处理单元；所述高功率激光光束取样器的光纤输出端与探测器相连；所述探测器产生的信号经信号处理电路处理后送入数据采集处理单元。

10.根据权利要求9所述的高功率激光光束测量系统，其特征在于：所述光衰减及探测单元包括衰减器，所述衰减器包括吸收介质膜衰减器或者光纤衰减器，其设置在光纤输出端和探测器之间。