[发明专利]便携式分析仪以及XRF分析方法有效

专利信息
申请号: 201210071895.9 申请日: 2012-03-16
公开(公告)号: CN102735705A 公开(公告)日: 2012-10-17
发明(设计)人: P·J·哈德曼 申请(专利权)人: 奥林巴斯NDT公司
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 美国马*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 便携式 分析 以及 xrf 方法
【权利要求书】:

1.一种便携式分析仪,包括:

x射线源,被配置为发射x射线至试样;

检测器子系统,响应于由所述试样放射出的x射线,并且输出所检测到的具有不同能量水平的x射线的强度;

气压测量装置,被配置为测量环境气压;

处理子系统,响应于所述检测器子系统和所述气压测量装置,并被配置为:

基于所述检测器子系统检测到的能量水平对应于至少一种低原子序数元素的x射线的强度来计算所述元素在所述试样内的含量,其中所述计算包括基于所述环境气压来校正所述强度。

2.根据权利要求1所述的便携式分析仪,其特征在于,

所述检测器子系统输出在校准气压Pc下对应于所述元素的已知含量的强度I,以及

所述处理子系统在所述环境气压大于Pc时提高所述强度,并在所述环境气压小于Pc时降低所述强度。

3.根据权利要求1所述的便携式分析仪,其特征在于,该便携式分析仪还包括存储的校准数据,

对于一种低原子序数元素,所述校准数据至少包括在不同气压下对应于该元素的已知含量的强度水平。

4.根据权利要求3所述的便携式分析仪,其特征在于,所述处理子系统被配置为基于所述存储的校准数据来校正测量出的强度。

5.根据权利要求4所述的便携式分析仪,其特征在于,所述处理子系统被配置为计算在测量出的气压下对应于所述元素的吸收因子。

6.根据权利要求1所述的便携式分析仪,其特征在于,所述检测器子系统包括硅漂移检测器。

7.根据权利要求1所述的便携式分析仪,其特征在于,所述气压测量装置是气压计。

8.根据权利要求1所述的便携式分析仪,其特征在于,该便携式分析仪还包括温度传感器,所述温度传感器用于测量环境空气温度。

9.根据权利要求8所述的便携式分析仪,其特征在于,所述处理子系统进一步被配置为:

基于所述环境空气温度来校正所述环境气压,并且

基于校正后的气压来对所述强度进行校正。

10.根据权利要求9所述的便携式分析仪,其特征在于,所述处理子系统被配置为:通过基于测量出的温度和校准温度对测量出的气压进行校正,来基于所述测量出的温度校正所述测量出的气压。

11.根据权利要求9所述的便携式分析仪,其特征在于,所述处理子系统被配置为:通过确定所述校正后的气压和校准气压之间的差值并使用所述差值校正所述强度,来对所述强度进行校正。

12.根据权利要求11所述的便携式分析仪,其特征在于,所述处理子系统被配置为:通过确定校正因子来校正所述强度,其中所述校正因子是常数与所述校正后的气压和校准气压之间的差值的函数。

13.根据权利要求12所述的便携式分析仪,其特征在于,对于已知的激发能,每种元素的校正因子是通过经验确定的。

14.根据权利要求1所述的便携式分析仪,其特征在于,该便携式分析仪进一步包括围绕所述x射线源和所述检测器子系统的壳体,

所述壳体包括窗口,所述x射线源发射的x射线穿过所述窗口到达所述试样,并且来自所述试样的x射线穿过所述窗口。

15.根据权利要求14所述的便携式分析仪,其特征在于,所述气压测量装置配置在所述壳体内。

16.一种XRF分析方法,包括:

发射x射线至试样;

检测由所述试样放射出的x射线,并且测量所检测到的具有不同能量水平的x射线的强度;

测量环境气压;

基于所检测到的能量水平对应于至少一种元素的x射线的强度来自动计算所述元素在所述试样内的含量,其中所述计算包括基于所述环境气压自动校正所述强度。

17.根据权利要求16所述的XRF分析方法,其特征在于,对于在校准气压Pc下对应于所述元素的已知含量测量出的强度I,所述校正包括:

在所述环境气压大于Pc时,提高所述强度;以及

在所述环境气压小于Pc时,降低所述强度。

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