[发明专利]优化版图栅长的方法及其装置

权利要求书

1.一种优化版图栅长的方法，集成电路设计版图内的栅沿同一方向设置，其特征在于，包括：

S1，根据集成电路设计版图的具有寄生参数的电路网表的仿真结果，获得集成电路设计版图中每个标准单元的各个节点的当前延时时间和极限延时时间；

S2，根据标准单元中每个节点的当前延时时间和极限延时时间，获得每个标准单元中各个节点对应的栅长的调整长度；

S3，按照每个标准单元中各个节点对应的栅长的调整长度，将集成电路设计版图中的栅沿栅长方向增加相应的调整长度，并对集成电路版图中的图形进行相应调整，以保持集成电路版图中的图形之间的相对位置关系不变。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获得集成电路设计版图中每个标准单元的各个节点的当前延时时间和极限延时时间的步骤，包括：

通过对电路网表的瞬态仿真分析的结果进行计算，得到每个标准单元的各个节点的当前延时时间；

对电路网表进行仿真，依照各标准单元及标准单元的各个节点在信号流路径上的顺序，依次确定每个标准单元的各个节点的极限延时时间。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，确定极限延时时间的方法为：采用固定步长、变步长或固定步长与变步长混合的方法调整延时时间，确定能确保集成电路设计能正常工作的最大延时时间为极限延时时间。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的方法，其特征在于，每个标准单元中各个节点对应的栅长的调整长度ΔL＝L×{SQRT[k×(t_{delay_limit}/t_{delay_now}-1)+1]-1}，其中，L为集成电路设计版图中的栅长，t_{delay_now}为每个标准单元中各个节点的当前延时时间，t_{delay_limit}为每个标准单元的极限延时时间，k为设计裕量，k不大于1。

5.根据权利要求1-3中任一项所述的方法，其特征在于，每个标准单元中各个节点对应的栅长的调整长度为ΔL＝k×(t_{delay_limit}/t_{delay_now}-1)×L/2，其中，L为集成电路设计版图中的栅长，t_{delay_now}为每个标准单元中各个节点的当前延时时间，t_{delay_limit}为每个标准单元的极限延时时间，k为设计裕量，k不大于1。

6.根据权利要求1所述的方法，集成电路版图中的图形包括标准单元内的图形以及标准单元之间的互连线图形，其特征在于，所述步骤S3，包括：

S301，对每个标准单元内的图形进行调整，包括：按照标准单元中的各个节点对应的栅长的调整长度，将标准单元内的栅沿栅长方向增加相应的调整长度，并对该标准单元中的图形进行调整，保持标准单元中的图形之间的相对位置关系不变；

S302，对标准单元之间的布局进行调整；

S303，对标准单元之间的互连线图形进行调整。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述步骤S301具体包括：

将标准单元中的栅沿栅的第一侧增加对应的栅长的调整长度，并将栅沿栅长方向进行平移，使栅之间的间隔保持不变；以及，将接触孔进行平移，将扩散图形的垂直边沿栅长方向扩展及平移，将各互连线图形进行平移以及对沿栅长方向的互连线图形的进行长度的拉伸，以保持栅与接触孔图形、扩散图形及互连线图形的相对位置关系不变。

8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述步骤S302具体包括：

将标准单元沿栅长方向进行平移，以保持标准单元之间的间隔不变。

9.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述步骤S303具体包括：

对各标准单元之间的互连线图形进行平移以及对沿栅长方向的互连线图形的长度进行拉伸，以保持标准单元中的引出管脚同标准单元中的栅的相对位置关系不变。

10.一种优化版图栅长的装置，其特征在于，包括：

延时时间获取单元，用于根据集成电路设计版图的具有寄生参数的电路网表的仿真结果，获得集成电路设计版图中每个标准单元的各个节点的当前延时时间和极限延时时间；

栅长的调整长度获取单元，用于根据标准单元中每个节点的当前延时时间和极限延时时间，获得每个标准单元中各个节点对应的栅长的调整长度；

版图调整单元，用于按照每个标准单元中各个节点对应的栅长的调整长度，将集成电路设计版图中的栅沿栅长方向增加相应的调整长度，并对集成电路版图中的图形进行相应调整，以保持集成电路版图中的的图形之间的相对位置关系不变。