[发明专利]一种提高区熔硅单晶径向电阻率均匀性的方法无效

专利信息
申请号: 201210061384.9 申请日: 2012-03-10
公开(公告)号: CN102586859A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: 张雪囡;王彦君;李建宏;邬丽丽;陈强;苗向春;李军 申请(专利权)人: 天津市环欧半导体材料技术有限公司
主分类号: C30B13/30 分类号: C30B13/30;C30B29/06
代理公司: 天津中环专利商标代理有限公司 12105 代理人: 胡京生
地址: 300384 天津市西青*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 提高 区熔硅单晶 径向 电阻率 均匀 方法
【权利要求书】:

1.一种提高区熔硅单晶径向电阻率均匀性的方法,其特征在于:还包括有旋转磁场发生器(3)和支架(5),旋转磁场发生器(3)通过支架(5)固定在区熔炉炉室的炉壁(4)内,旋转磁场发生器(3)内壁距离硅单晶表面1~30cm;方法步骤为

⑴、将卡盘安装在多晶料棒6头部并用扳手拧紧,将卡盘安装在上轴底端,调整多晶料棒(6)使之呈竖直状态,安装加热线圈(1)和保温筒(2)并用水平仪进行水平调整,关闭炉门抽空,之后充入Ar气使炉压达到4bar;

⑵、下降多晶料棒(6),缓慢增加功率进行加热,待多晶料棒(6)下端出现熔体后,上升籽晶与熔体接触进行过热引晶;

⑶、引晶完毕后,开启下速进行拉细颈,达到设定细颈长度时降低下速进行扩肩,此时开始通入掺杂气体,并开启旋转磁场发生器(3),旋转磁场的频率为1~19Hz,强度为600~1300Gauss;

⑷、当扩肩直径达到设定值时,降低下轴速度开始等径生长;

⑸、等径生长完成后收尾停炉,关闭旋转磁场发生器(3)并取出硅单晶(8)。

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