[发明专利]测试信号接收单元的测试电路、图像拾取装置、测试方法

说明书

技术领域

本发明的实施例涉及用于测试信号接收单元的测试电路、图像拾取装置、用于测试信号接收单元的测试系统、测试信号接收单元的方法、以及测试图像拾取装置的方法。

背景技术

在多个列中设置信号线并且信号接收单元(以下，称为SRU)与各信号线连接的装置是已知的。这种装置的例子包括诸如存储器的存储装置、诸如液晶面板的显示器、具有用于从像素读取信号的SRU的互补金属氧化物半导体(CMOS)型图像拾取装置、以及使用双极晶体管的图像拾取装置等。日本专利公开No.2000-324404公开了具有测试设置在各列中的用于处理信号的电路的特性的功能的图像拾取装置。

在日本专利公开No.2000-324404中所公开的图像拾取装置中，为了使得能够测量将从像素输出的模拟信号转换成数字信号的模拟-数字转换器的特性(characteristic)，测试信号产生器与垂直信号线连接。在该配置中，从测试信号产生器向垂直信号线供给电流，并且，测量与垂直信号线连接的模拟-数字转换器的特性。

在日本专利公开No.2000-324404中所公开的配置中，测试信号从单个测试信号产生器被供给到所有列的像素，由此，从测试信号产生器到各垂直信号线的电路径的阻抗随着距测试信号产生器的距离而增大。结果，在当开始向SRU供给测试信号时供给到各SRU的测试信号中出现大的差异。因此，如果不等待被供给到SRU的测试信号的差异变小而执行测试，那么出现测量精度的降低。如果在供给到SRU的测试信号的差异已变得足够小之后执行测试，那么测试精度会增大。但是，等待所述差异变小导致测试时间增大。

发明内容

根据本发明的其中的一个方面，公开了一种测试电路，该测试电路包括：被配置为通过信号线向设置在多个列中的信号接收单元供给测试信号的测试信号供给单元，其中，测试信号供给单元是电压缓冲器或电流缓冲器，并且，测试电路具有多个测试信号供给单元和多个信号线，其中，至少一个测试信号供给单元电连接不同于电连接另外的测试信号供给单元的信号线的一个信号线。

根据本发明的另一方面，公开了一种测试设置在多个列中的信号接收单元的方法，该方法包括：从用作测试信号供给单元的多个电压缓冲器或电流缓冲器向信号接收单元供给测试信号，使得测试信号供给单元中的一个向与从另外的不同的测试信号供给单元被供给测试信号的信号接收单元不同的信号接收单元供给测试信号；和通过使用供给到信号接收单元的测试信号来测试信号接收单元。

从参照附图对示例性实施例的以下描述，本发明的其它特征将变得明白。

附图说明

图1是示意性地示出第一实施例的框图。

图2是根据第一实施例的驱动定时图。

图3是示意性地示出第二实施例的框图。

图4是根据第二实施例的驱动定时图。

图5是示意性地示出第三实施例的框图。

图6是根据第三实施例的驱动定时图。

图7是示意性地示出第四实施例的框图。

图8A和图8B是示意性地示出根据实施例的图像拾取装置的配置的例子的框图。

图9是示意性地示出根据实施例的SRU测试电路的例子的框图。

图10是示意性地示出根据第一实施例的另一配置的框图。

具体实施方式

首先，以下描述根据实施例的SRU测试电路的配置和测试操作。实施例的一个公开的特征可被描述为通常示为流程图、流程示图、定时图、结构图或框图的处理。虽然流程图或定时图可将操作或事件描述为依次的处理，但是，可以并行或同时地执行操作或者出现事件。流程图中的操作可以是任选的。另外，操作或事件的次序可被重新布置。当其操作完成时，处理终止。处理可对应于方法、程序、过程、制作或制造的方法、由装置、机器或逻辑电路执行的一系列的操作等。