[发明专利]测试信号接收单元的测试电路、图像拾取装置、测试方法

权利要求书

1.一种测试电路，包括：

测试信号供给单元，所述测试信号供给单元被配置为通过信号线向设置在多个列中的信号接收单元供给测试信号，其中，

所述测试信号供给单元是电压缓冲器或电流缓冲器，并且，所述测试电路具有多个测试信号供给单元和多个信号线，并且，

其中，至少一个测试信号供给单元电连接不同于电连接另外的测试信号供给单元的信号线的一个信号线。

2.根据权利要求1的测试电路，其中，测试信号供给单元中的每一个与信号线中的一个电连接。

3.根据权利要求1的测试电路，还包括与所述测试信号供给单元电连接并被配置为驱动测试信号供给单元来供给测试信号的电源。

4.根据权利要求3的测试电路，其中，所述电源是被配置为从多个电压值选择要被供给到各测试信号供给单元的电压值的电压源。

5.根据权利要求4的测试电路，其中，各信号接收单元基于所述多个电压值对于从所述测试信号供给单元供给的测试信号执行相关双重采样。

6.根据权利要求3的测试电路，其中，

所述信号接收单元被设置在半导体基板上，并且，

所述电源被设置在所述半导体基板之外。

7.根据权利要求3的测试电路，其中，

所述信号接收单元被设置在半导体基板上，并且，

所述电源被设置在所述半导体基板上。

8.一种图像拾取装置，包括：

根据权利要求1的测试电路；和

多个像素，所述多个像素分别包含被配置为通过光电转换产生电荷的光电转换单元和被配置为输出基于通过所述光电转换单元产生的电荷的信号的信号输出单元，其中，

各像素的信号输出单元与信号线中的一个连接；和

分别被配置为接收信号的多个信号接收单元。

9.根据权利要求8的图像拾取装置，其中，信号输出单元包含：

放大晶体管，所述放大晶体管放大基于所述电荷的信号并且输出得到的放大的信号；和

选择晶体管，所述选择晶体管选择从哪个像素向信号线输出信号，

并且其中，测试选择晶体管与测试信号供给单元电连接，使得所述测试选择晶体管电连接所述测试信号供给单元与所述信号线或者电断开所述测试信号供给单元与所述信号线。

10.根据权利要求9的图像拾取装置，其中，所述放大晶体管和所述测试信号供给单元均为共用漏极放大器电路。

11.根据权利要求8的图像拾取装置，其中，所述测试信号供给单元具有在图像拍摄操作中向信号线供给电压或电流以抑制由与信号线电连接的恒流源供给的电流的变化的功能。

12.一种图像拾取装置，包括：

设置在包含多个列的阵列中的像素，各像素包含被配置为通过光电转换产生电荷的光电转换单元、被配置为保持通过光电转换单元产生的电荷的浮动扩散部分、被配置为输出基于由所述浮动扩散部分保持的电荷的信号的信号输出单元、以及与所述浮动扩散部分电连接并被配置为将所述浮动扩散部分的电势复位的复位单元；

被设置在像素的各列中并与相应的信号输出单元电连接的信号线；和

与相应的信号线电连接并被配置为接收信号的信号接收单元，其中，

向相应的信号接收单元输出测试信号的至少一个像素与各自的信号线电连接，

输出测试信号的各像素的信号输出单元和复位单元与不同的电压源电连接，并且，

当像素的信号输出单元向所述信号接收单元输出测试信号时，与所述信号输出单元电连接的电压源输出与电连接复位单元的电压源输出的电压不同的电压。

13.一种测试设置在多个列中的多个信号接收单元的方法，包括：

从用作测试信号供给单元的多个电压缓冲器或电流缓冲器向所述多个信号接收单元供给测试信号，使得所述测试信号供给单元中的一个向与从另外的不同的测试信号供给单元被供给测试信号的信号接收单元不同的信号接收单元供给测试信号；和

通过使用供给到所述多个信号接收单元的测试信号来测试所述多个信号接收单元。