[发明专利]改良的电路板的测试治具结构

权利要求书

1.一种改良的电路板的测试治具结构，其特征在于，包含有：

一测试机台面，其具有一测试区；

一转接单元，设于测试机台面上，其包括有多个层叠的导针板、分别设于各导针板上的穿孔、及分别穿设于穿孔中且一端与测试区接触导通的导针，而位于最下层导针板上所设的各穿孔与测试区对应；

一万用密度板，设于转接单元的一面上，其包括有多个与最上层导针板所设各穿孔对应的对应孔、及分别设于各对应孔中且与各导针另一端接触导通的上弹性探针；以及

一针板单元，其设于万用密度板的一面上，且该针板单元上设有多个分别与各上弹性探针接触导通的探针。

2.如权利要求1所述的改良的电路板测试治具结构，其特征在于，该测试机台面的测试区包括有多个贯孔、及分别设于各贯孔中的下弹性探针，使该转接单元的各导针一端分别与下弹性探针接触导通，且该转接单元的各导针板间分别设有多个定位柱，且各导针板上的穿孔分别为不同的间距，而使各导针以倾斜状态分别穿设于各穿孔中，而位于最下层导针板所设各穿孔间的间距大于位于最上层导针板的各穿孔。

3.一种改良的电路板的测试治具结构，其特征在于，包含有：

一测试机台面，其具有一测试区；

一转接单元，设于测试机台面上，其包括有至少二相层叠的导线板、分别设于各导线板上的穿孔、及分别穿设于穿孔中且一端与测试区连接导通的导线，而位于最下层导线板上所设的各穿孔与测试区对应；

一万用密度板，设于转接单元的一面上，其包括有多个与最上层导针板所设各穿孔对应的对应孔、及分别设于各对应孔中且与各导线另一端连接导通的上弹性探针；以及

一针板单元，其设于万用密度板的一面上，且该针板单元上设有多个分别与各上弹性探针接触导通的探针。

4.如权利要求3所述的改良的电路板的测试治具结构，其特征在于，该测试机台面的测试区包括有多个贯孔、及分别设于各贯孔中的下弹性探针，使该转接单元的各导线一端分别与下弹性探针连接导通，且该转接单元的各导线板间分别设有多个定位柱，且各导线板上的穿孔分别为不同的间距，而位于最下层导线板所设各穿孔间的间距大于位于最上层导线板的各穿孔。

5.一种改良的电路板的测试治具结构，其特征在于，包含有：

一测试机台面，其具有一测试区；

一转接单元，设于测试机台面上，其包括有一电路板、多个设于电路板顶面的上接点、及多个设于电路板底面且与测试区对应并接触导通的下接点，而各上、下接点相互对应导通；

一万用密度板，设于转接单元的一面上，其包括有多个与上接点对应的对应孔、及分别设于各对应孔中且与各上接点接触导通的上弹性探针；以及

一针板单元，其设于万用密度板的一面上，且该针板单元上设有多个分别与各上弹性探针接触导通的探针。

6.如权利要求5所述的改良的电路板的测试治具结构，其特征在于，该测试机台面的测试区包括有多个贯孔、及分别设于各贯孔中的下弹性探针，使该转接单元的各下接点分别与下弹性探针接触导通，且该转接单元各上、下接点分别为不同的间距，而各下接点的间距大于上接点。