[发明专利]相位差法测定双轴磁传感器正交度的方法及装置无效
申请号: | 201210006307.3 | 申请日: | 2012-01-08 |
公开(公告)号: | CN102445230A | 公开(公告)日: | 2012-05-09 |
发明(设计)人: | 李伟;佘以军;龚天平;蔡传真 | 申请(专利权)人: | 中国船舶重工集团公司第七一○研究所 |
主分类号: | G01D18/00 | 分类号: | G01D18/00 |
代理公司: | 宜昌市三峡专利事务所 42103 | 代理人: | 成钢 |
地址: | 443003 *** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 相位差 测定 双轴磁 传感器 正交 方法 装置 | ||
技术领域
本发明涉及磁传感器技术领域,具体涉及一种相位差法测定双轴磁传感器正交度的方法及装置。
背景技术
磁量传感器的正交度是双轴或三轴磁传感器的重要指标,在高精度磁测量领域和高精度磁罗盘的应用场合,该指标尤为重要。目前常用的测试方法是磁矢量投影法:用磁场线圈向磁矢量传感器的一轴上施以恒定磁场,测量另一轴的输出,然后通过反三角函数运算,求出磁矢量传感器两轴之间的夹角,进而求出正交度误差。
磁矢量投影法如图1所示:欲测量双轴磁传感器x轴与y轴的夹角α,则在x轴方向上施加磁场B,测量y轴的输出记为Vy,则依据磁矢量的投影定理有:
sy·Bcosα=Vy (1)
式(1)中,磁场B由磁场线圈给定,Sy为磁传感器的y轴灵敏度,Vy为磁传感器的y轴输出,由式(1)可求得磁矢量传感器的夹角为:
磁矢量投影法对设备的要求较高,需要精密的磁场产生设备-磁场线圈及配套的高精度恒流源,一套测试设备费用高达上百万元;同时,操作步骤复杂,需要完成磁传感器的轴与磁场线圈的轴对准操作,该操作为精密装配操作,耗时较长。
发明内容
针对现有技术中存在的问题,本发明提供一种相位差法测量双轴磁传感器的正交度的方法及设备,利用本发明进行测量时,不需要磁场线圈、恒定电流源等昂贵的检测设备;也不需要精密的机械装调过程,仅需一台水平转台即可完成磁传感器的正交度测量,可降低测量成本,提高测量效率。
本发明的目的是这样实现的:一种相位差法测定双轴磁传感器正交度的方法,包括以下步骤:
1)数据采集:将待测磁传感器放置在无磁转水平转台上,转动水平转台采集磁传感器的数据;
2)数据拟合:对采集的数据进行正弦曲线拟合求得磁传感器输出的正弦曲线方程;
3)数据计算:将正弦曲线的相位参数代入公式计算磁传感器的正交度。
所述的数据采集是将将待测磁传感器放置在无磁水平转台上,以不同的角度转动无磁水平转台,采集待测磁传感器在不同的转台示角下的x轴的输出电压和y轴的输出电压
步骤3)所述的公式为:
式(6)中,Vx、Vy代表不同的转台示角下的x轴和y轴的输出电压;Ax、Ay分别代表待测磁传感器x轴和y轴输出幅度;为待测磁传感器的x轴与转台零位刻线之间的夹角,分别为双轴磁传感器与磁场的夹角,待测磁传感器的正交度为:
一种相位差法测定双轴磁传感器正交度的装置,无磁水平转台安装在支撑轴上,在无磁水平转台上设有刻度,无磁水平转台一侧设有对准基准。
本发明提供的相位差法测定双轴磁传感器正交度的方法及装置,不需要磁场线圈、恒定电流源等昂贵的检测设备;也不需要精密的机械装调过程,仅需一台水平转台即可完成磁传感器的正交度测量。作为主要设备的仅有一水平无磁转台,将双轴磁传感器放置在转台即可测出双轴磁传感器正交度,使用简单,引入的参数少,测量误差源少,操作方便,使用灵活。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明作进一步说明。
图1是磁矢量投影法的示意图,B为外加磁场。
图2是磁传感器的输出曲线。
图3是相位差法测定双轴磁传感器正交度的装置结构示意图。
具体实施方式
本发明提供相位差法测定双轴磁传感器正交度的装置的结构如图3所示:一种相位差法测定双轴磁传感器正交度的装置,无磁水平转台1安装在支撑轴2上,在无磁水平转台1上设有刻度3,无磁水平转台1一侧设有对准基准4。
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