[发明专利]相位差法测定双轴磁传感器正交度的方法及装置无效

专利信息
申请号: 201210006307.3 申请日: 2012-01-08
公开(公告)号: CN102445230A 公开(公告)日: 2012-05-09
发明(设计)人: 李伟;佘以军;龚天平;蔡传真 申请(专利权)人: 中国船舶重工集团公司第七一○研究所
主分类号: G01D18/00 分类号: G01D18/00
代理公司: 宜昌市三峡专利事务所 42103 代理人: 成钢
地址: 443003 *** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 相位差 测定 双轴磁 传感器 正交 方法 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及磁传感器技术领域,具体涉及一种相位差法测定双轴磁传感器正交度的方法及装置。

背景技术

磁量传感器的正交度是双轴或三轴磁传感器的重要指标,在高精度磁测量领域和高精度磁罗盘的应用场合,该指标尤为重要。目前常用的测试方法是磁矢量投影法:用磁场线圈向磁矢量传感器的一轴上施以恒定磁场,测量另一轴的输出,然后通过反三角函数运算,求出磁矢量传感器两轴之间的夹角,进而求出正交度误差。

磁矢量投影法如图1所示:欲测量双轴磁传感器x轴与y轴的夹角α,则在x轴方向上施加磁场B,测量y轴的输出记为Vy,则依据磁矢量的投影定理有:

sy·Bcosα=Vy    (1)

式(1)中,磁场B由磁场线圈给定,Sy为磁传感器的y轴灵敏度,Vy为磁传感器的y轴输出,由式(1)可求得磁矢量传感器的夹角为:

α=arccosVySy·B---(2)]]>

磁矢量投影法对设备的要求较高,需要精密的磁场产生设备-磁场线圈及配套的高精度恒流源,一套测试设备费用高达上百万元;同时,操作步骤复杂,需要完成磁传感器的轴与磁场线圈的轴对准操作,该操作为精密装配操作,耗时较长。

发明内容

针对现有技术中存在的问题,本发明提供一种相位差法测量双轴磁传感器的正交度的方法及设备,利用本发明进行测量时,不需要磁场线圈、恒定电流源等昂贵的检测设备;也不需要精密的机械装调过程,仅需一台水平转台即可完成磁传感器的正交度测量,可降低测量成本,提高测量效率。

本发明的目的是这样实现的:一种相位差法测定双轴磁传感器正交度的方法,包括以下步骤:

1)数据采集:将待测磁传感器放置在无磁转水平转台上,转动水平转台采集磁传感器的数据;

2)数据拟合:对采集的数据进行正弦曲线拟合求得磁传感器输出的正弦曲线方程;

3)数据计算:将正弦曲线的相位参数代入公式计算磁传感器的正交度。

所述的数据采集是将将待测磁传感器放置在无磁水平转台上,以不同的角度转动无磁水平转台,采集待测磁传感器在不同的转台示角下的x轴的输出电压和y轴的输出电压

步骤3)所述的公式为:

式(6)中,Vx、Vy代表不同的转台示角下的x轴和y轴的输出电压;Ax、Ay分别代表待测磁传感器x轴和y轴输出幅度;为待测磁传感器的x轴与转台零位刻线之间的夹角,分别为双轴磁传感器与磁场的夹角,待测磁传感器的正交度为:

一种相位差法测定双轴磁传感器正交度的装置,无磁水平转台安装在支撑轴上,在无磁水平转台上设有刻度,无磁水平转台一侧设有对准基准。

本发明提供的相位差法测定双轴磁传感器正交度的方法及装置,不需要磁场线圈、恒定电流源等昂贵的检测设备;也不需要精密的机械装调过程,仅需一台水平转台即可完成磁传感器的正交度测量。作为主要设备的仅有一水平无磁转台,将双轴磁传感器放置在转台即可测出双轴磁传感器正交度,使用简单,引入的参数少,测量误差源少,操作方便,使用灵活。

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明作进一步说明。

图1是磁矢量投影法的示意图,B为外加磁场。

图2是磁传感器的输出曲线。

图3是相位差法测定双轴磁传感器正交度的装置结构示意图。

具体实施方式

本发明提供相位差法测定双轴磁传感器正交度的装置的结构如图3所示:一种相位差法测定双轴磁传感器正交度的装置,无磁水平转台1安装在支撑轴2上,在无磁水平转台1上设有刻度3,无磁水平转台1一侧设有对准基准4。

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