[发明专利]相位差法测定双轴磁传感器正交度的方法及装置无效
申请号: | 201210006307.3 | 申请日: | 2012-01-08 |
公开(公告)号: | CN102445230A | 公开(公告)日: | 2012-05-09 |
发明(设计)人: | 李伟;佘以军;龚天平;蔡传真 | 申请(专利权)人: | 中国船舶重工集团公司第七一○研究所 |
主分类号: | G01D18/00 | 分类号: | G01D18/00 |
代理公司: | 宜昌市三峡专利事务所 42103 | 代理人: | 成钢 |
地址: | 443003 *** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 相位差 测定 双轴磁 传感器 正交 方法 装置 | ||
1.一种相位差法测定双轴磁传感器正交度的方法,其特征在于:包括以下步骤:
1)数据采集:将待测磁传感器放置在无磁转水平转台上,转动水平转台采集磁传感器的数据;
2)数据拟合:对采集的数据进行正弦曲线拟合求得磁传感器输出的正弦曲线方程;
3)数据计算:将正弦曲线的相位参数代入公式计算磁传感器的正交度。
2.根据权利要求1所述的相位差法测定双轴磁传感器正交度的方法,其特征在于:所述的数据采集是将将待测磁传感器放置在无磁水平转台上,以不同的角度转动无磁水平转台,采集待测磁传感器在不同的转台示角下的x轴的输出电压和y轴的输出电压
3.根据权利要求1所述的相位差法测定双轴磁传感器正交度的方法,其特征在于:所述的公式为:
式(6)中,Vx、Vy代表不同的转台示角下的x轴和y轴的输出电压;Ax、Ay分别代表待测磁传感器x轴和y轴输出幅度;为待测磁传感器的x轴与转台零位刻线之间的夹角,分别为双轴磁传感器与磁场的夹角,待测磁传感器的正交度为:
4.一种相位差法测定双轴磁传感器正交度的装置,其特征在于:无磁水平转台(1)安装在支撑轴(2)上,在无磁水平转台(1)上设有刻度(3),无磁水平转台(1)一侧设有对准基准(4)。
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