[发明专利]条纹反射三维测量的系统几何标定方法

权利要求书

1.一种用于条纹反射三维测量的系统几何标定方法，其特征在于: 标定摄像机与不直接在其视场范围内的条纹显示装置（例如：液晶显示器）之间的几何位姿关系；利用平面镜对条纹显示装置上显示的二维正弦条纹反射不小于3次，固定的摄像机对平面镜中条纹的镜像成像并记录；根据条纹显示装置上条纹特征点坐标和其成像点的图像坐标，标定摄像机与条纹显示装置之间的几何位姿关系。

2.根据权利1要求所述的二维正弦条纹，其特征在于：二维条纹图像的形式由计算机编写程序，其图像的像素大小与条纹显示装置的分辨率一致，将其显示在条纹显示装置的显示屏上；结合设计条纹图的方程和条纹显示装置的点间距，可以构建平面相位标靶。

3.根据权利1要求所述图像特征点，其特征在于：利用傅里叶分析处理摄像机记录的条纹图，获取包裹相位，取其零相位点为特征点，并根据相位的线性特征进行图像特征点的亚像素定位。

4. 根据权利1要求所述的平面镜，其特征在于：平面镜一块，不需要在其上面贴上任何标记点。

5.根据权利1要求所述的摄像机与不直接在其视场范围内条纹显示装置之间的几何位姿关系标定，其特征在于：根据不小于3次反射投影成像的条纹图记录，利用平面多点位姿评估算法，解算摄像机与平面镜中条纹显示装置上条纹镜像之间的3个或3个以上的位姿关系；利用3个或3个以上的位姿关系线性求解摄像机与条纹显示装置的几何位姿关系；最后利用光束法平差优化标定结果。