[发明专利]氮化物单晶的制造方法及其使用的高压釜无效
| 申请号: | 201180071853.9 | 申请日: | 2011-06-23 |
| 公开(公告)号: | CN103635616A | 公开(公告)日: | 2014-03-12 |
| 发明(设计)人: | 青木谦介;吉田一男;中村克仁;福田承生 | 申请(专利权)人: | 旭化成株式会社;国立大学法人东北大学 |
| 主分类号: | C30B29/38 | 分类号: | C30B29/38;C30B7/10 |
| 代理公司: | 上海市华诚律师事务所 31210 | 代理人: | 李晓 |
| 地址: | 日本国大阪府大阪*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 氮化物 制造 方法 及其 使用 高压 | ||
1.一种氮化物单晶的制造方法,是通过氨热法用原料制造含Ga氮化物单晶的方法,所述原料含有选自由含Ga氮化物多晶、含Ga氮化物及含Ga氮化物前驱体构成的群的至少1种,
所述氮化物单晶的制造方法包含:
向高压釜内至少导入该原料、1种以上的酸性矿化剂和氨后,在满足以下(a)~(e)的条件下,令含Ga氮化物单晶生长:
(a)该高压釜内,存在装载该原料的原料供应部位、和用于令该含Ga氮化物单晶生长的单晶生长部位,
(b)该单晶生长部位是装载晶种的部位,
(c)该单晶生长部位的温度T1为600℃~850℃,
(d)该单晶生长部位的温度T1与该原料供应部位的温度T2之间,存在T1>T2的关系,且
(e)该高压釜内的压力为40MPa~250MPa。
2.一种氮化物单晶的制造方法,是通过氨热法用原料制造含Ga氮化物单晶的方法,所述原料含有选自由含Ga氮化物多晶、含Ga氮化物及含Ga氮化物前驱体构成的群的至少1种,
所述氮化物单晶的制造方法包含:
向高压釜内至少导入该原料、1种以上的酸性矿化剂和氨后,在满足以下(a)~(e)的条件下,令含Ga氮化物单晶生长:
(a)该高压釜内,存在装载该原料的原料供应部位、和用于令该含Ga氮化物单晶生长的单晶生长部位,
(b)该单晶生长部位,是含Ga氮化物单晶通过自发成核而析出及生长的部位,
(c)该单晶生长部位的温度T1为600℃~850℃,
(d)该单晶生长部位的温度T1与该原料供应部位的温度T2之间,存在T1>T2的关系,且
(e)该高压釜内的压力为40MPa~250MPa。
3.根据权利要求1所述的氮化物单晶的制造方法,其中,该晶种是通过权利要求2所述的氮化物单晶的制造方法制造的含Ga氮化物单晶。
4.根据权利要求1~3任意一项所述的氮化物单晶的制造方法,其中,该原料装载在设置有多个孔或狭缝状缝隙的容器内,且,
在该容器的侧面与该高压釜的内壁之间,存在1mm以上的缝隙。
5.根据权利要求1~4任意一项所述的氮化物单晶的制造方法,其中,该高压釜为立式高压釜,且该原料供应部位的位置高于该单晶生长部位。
6.根据权利要求5所述的氮化物单晶的制造方法,其中,该原料供应部位位于自该高压釜的内部底面起10mm以上的高度的位置,且,
在该原料供应部位与该高压釜内部底面之间,存在该单晶生长部位。
7.根据权利要求1~6任意一项所述的氮化物单晶的制造方法,其中,在该原料供应部位与该单晶生长部位之间,配置有至少1个隔板。
8.根据权利要求2及4~7任意一项所述的氮化物单晶的制造方法,其中,该单晶生长部位是含Ga氮化物单晶通过自发成核而析出及生长的部位,且,
在该单晶生长部位配置有具有1个以上的孔的耐腐蚀性的板。
9.根据权利要求1~8任意一项所述的氮化物单晶的制造方法,其中,该原料含有通过气相法制造的含Ga氮化物多晶。
10.一种基板,由权利要求1~9任意一项所述的氮化物单晶的制造方法所制造的氮化物单晶构成。
11.一种氮化物单晶,由权利要求1~9任意一项所述的氮化物单晶的制造方法所制造,且最大尺寸在1mm以上。
12.一种高压釜,是用于权利要求1~9任意一项所述的氮化物单晶的制造方法的高压釜,
其中,防护部的材料是铱与铂的合金或铱单质,所述防护部是令构成高压釜的2个以上的部件紧密贴合而保持高压釜内的压力的部分,且,该防护部材料的构成元素整体中铱所占的比例为20质量%~100质量%。
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