[发明专利]具有分子键合互连的连接器和同轴线缆有效

专利信息
申请号: 201180054849.1 申请日: 2011-09-23
公开(公告)号: CN103210552A 公开(公告)日: 2013-07-17
发明(设计)人: K·范斯韦林根;J·弗雷明 申请(专利权)人: 安德鲁有限责任公司
主分类号: H01R24/38 分类号: H01R24/38;H01R9/05
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 张涛
地址: 美国北卡*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 具有 分子 互连 连接器 同轴 线缆
【说明书】:

技术领域

本发明涉及线缆连接器。更具体地,本发明涉及一种通过分子键合与同轴线缆互连的同轴连接器。

背景技术

同轴线缆连接器例如在要求高精度和高可靠性的通信系统中用于终止同轴线缆。

为了在同轴线缆和连接器之间创造牢固的机械互连和优化的电气互连,理想的是在同轴线缆外导体的前边缘和连接器主体之间具有基本均匀的圆周接触。可以通过联接主体将外导体的扩口端部夹持抵靠在连接器主体的环形楔面上。另外,常规的同轴连接器通常包括在外导体的外径和连接器主体之间和/或在连接器主体和同轴线缆的护套之间的一个或多个单独的环境密封件。这种技术的代表是2004年9月21日授予Buenz的共同拥有的美国专利No.6793529。

虽然这种连接器通常是可以拆卸/重复使用的,但是由于所需多个分开的内部元件、互连螺纹和相关环境密封件而使制造和安装复杂。

业内还已知有被配置为通过焊接和/或粘合互连与同轴线缆永久互连的连接器。这种技术的代表是1998年9月8日授予Bufanda等人的共同拥有的美国专利No.5802710。但是焊接和/或粘合互连难以赋予高水平的质量控制,从而导致互连可能不令人满意,例如当长期暴露在振动和/或腐蚀环境下时。

无源互调失真(passive intermodulation distortion)(也被称为PIM)是一种电干扰/信号传输劣化的形式,其发生在不对称互连的情况下和/或例如由于机械应力、振动、热循环、氧化形成和/或材料劣化导致长期的电-机互连移位或劣化。因为来自单个低质量互连的PIM可能使整个RF系统的电气性能劣化,所以PIM是很重要的互连质量特征。

同轴线缆可以设有被预附接的连接器。可以以定制长度或标准长度提供这种同轴线缆,以例如用于彼此非常靠近的设备之间的互连,其中短的线缆部分被称为跨接线。为了提供高质量的同轴线缆,线缆-连接器互连可能要求按照需要生产具有所需连接界面的特定长度的线缆,或者储存顾客可能需要的每种长度和界面的线缆/跨接线的库存。按需生产和/或维持预组装线缆长度的大量库存(每种长度的线缆具有多个可能的连接界面之一)可增加运输时间和/或制造/储存成本。

同轴线缆连接器市场上的竞争已经聚焦于提高线缆-连接器互连的电气性能、互连质量一致性和长期可靠性。另外,整体成本(包括材料、培训和安装成本)的减少也是非常重要的商业成功因素。

因此,本发明的目的是提供克服现有技术中的缺陷的一种同轴连接器和互联的方法。

附图说明

作为说明书组成部分并被纳入说明书的附图示出了本发明的实施例,图中相同的附图标记表示相同的特征或元素,并且不针对附图标记所出现的每一幅图做详细说明,这些附图以及前面所给出的本发明的一般性描述以及后面所给出的实施例的详细描述共同阐述了本发明的原理。

图1是与同轴连接器互连的同轴线缆的示范实施例的示意性倾斜等距视图。

图2是图1的示意性侧向剖视图,示出了通过激光焊接形成的外导体和连接器主体的分子键合。

图3是与同轴连接器互连的同轴线缆的另一种示范实施例的示意性倾斜等距视图。

图4是预备好的同轴线缆端部和内导体帽的示意性局部剖视图。

图5是图4的区域B的放大视图。

图6是与同轴连接器互连的同轴线缆的示意性侧向剖视图,示出了通过旋转焊接形成的外导体和连接器主体的分子键合。

图7是图6的区域A的放大图。

图8是与同轴连接器互连的同轴线缆的示意性侧向剖视图,示出了通过超声波焊接形成的外导体和连接器主体的分子键合。

图9是图8的区域C的放大图。

图10是与同轴线缆互连的连接器适配器的示范实施例的示意性等距视图。

图11是带有Type-N阳连接器界面的界面端部的示意性等距视图。

图12是带有Type-N阴连接器界面的界面端部的示意性等距视图。

图13是带有成角度7/16DIN-阳连接器界面的界面端部的示意性等距视图。

图14是图3的示意性等距局部剖视图。

具体实施方式

对于同轴线缆的导体来说已将铝作为铜的有成本效益的替代物。但是,铝表面一旦暴露在空气中就会很快地形成氧化铝表面覆层。这些氧化铝表面覆层可使常规的机械互连、焊接互连和/或导电粘合互连劣化。

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