[发明专利]低阻抗传输线有效

专利信息
申请号: 201180040984.0 申请日: 2011-09-22
公开(公告)号: CN103098210A 公开(公告)日: 2013-05-08
发明(设计)人: 布赖恩·P·金斯伯格;维贾伊·B·伦塔拉;斯里纳特·M·拉马斯瓦米;巴赫尔·S·哈龙;硕恩永 申请(专利权)人: 德州仪器公司
主分类号: H01L27/04 分类号: H01L27/04;H01L21/768;H01L29/92;H01L21/3205
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 王璐
地址: 美国德*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 阻抗 传输线
【权利要求书】:

1.一种装置,其包括:

MOS电容器,其在衬底上形成;

金属电容器,其在所述MOS电容器上形成;以及

共面波导管,其在所述金属电容器上形成。

2.根据权利要求1所述的装置,其中所述金属电容器进一步包括具有相互交叉的第一、第二和第三部分的金属化层。

3.根据权利要求2所述的装置,其中所述金属化层进一步包括第一金属化层,且其中所述共面波导管进一步包括:

第二金属化层,其具有第一、第二和第三部分;

第一组导电通孔,其在所述第一金属化层的所述第一部分与所述第二金属化层的所述第一部分之间形成;

第二组导电通孔,其在所述第一金属化层的所述第二部分与所述第二金属化层的所述第二部分之间形成;以及

第三组导电通孔,其在所述第一金属化层的所述第三部分与所述第二金属化层的所述第三部分之间形成。

4.根据权利要求3所述的装置,其中所述第一金属化层进一步包括多个第一金属化层,所述第一金属化层中的每一者具有第一、第二和第三部分。

5.根据权利要求3所述的装置,其中所述共面波导管进一步包括:

第三金属化层,其具有第一、第二和第三部分;以及

第四组导电通孔,其在所述第二金属化层的所述第一和第三部分中的至少一者与所述第三金属化层之间形成。

6.根据权利要求5所述的装置,其中MOS电容器进一步包括:

第四金属化层,其具有第一部分和第二部分;

多个源极/漏极区域,其在所述衬底中形成;

多个栅极绝缘体层,其在所述衬底上形成,其中每一栅极绝缘体层是在至少两个源极/漏极区域之间形成的;

多个栅电极,其中每一栅电极是在所述栅极绝缘体层中的至少一者上形成的;

搭接片,其耦合到每一栅电极;

第七组导电通孔,其中来自所述第七组的每一导电通孔是在至少一个源极/漏极区域与所述第四金属化层的所述第一部分之间形成的;以及

第八组导电通孔,其中来自所述第八组的每一导电通孔是在所述搭接片处与所述第四金属化层的所述第二部分之间形成的。

7.根据权利要求1所述的装置,其中所述装置进一步包括在所述衬底上形成的二极管。

8.一种装置,其包括:

平衡-不平衡转换器,其具有中心分接头;以及

多个传输线单元,其彼此邻近以形成传输线,其中所述传输线耦合到所述中心分接头,且其中靠近所述中心分接头的所述传输线单元的尺寸经设计以具有比远离中心分接头的所述传输线单元小的高度,其中每一传输线单元包含:

MOS电容器,其在衬底上形成;

金属电容器,其在所述MOS电容器上形成;以及

共面波导管,其在所述金属电容器上形成。

9.根据权利要求8所述的装置,其中所述金属电容器进一步包括具有相互交叉的第一、第二和第三部分的金属化层。

10.根据权利要求9所述的装置,其中所述金属化层进一步包括第一金属化层,且其中所述共面波导管进一步包括:

第二金属化层,其具有第一、第二和第三部分;

第一组导电通孔,其在所述第一金属化层的所述第一部分与所述第二金属化层的所述第一部分之间形成;

第二组导电通孔,其在所述第一金属化层的所述第二部分与所述第二金属化层的所述第二部分之间形成;以及

第三组导电通孔,其在所述第一金属化层的所述第三部分与所述第二金属化层的所述第三部分之间形成。

11.根据权利要求10所述的装置,其中所述第一金属化层进一步包括多个第一金属化层,所述第一金属化层中的每一者具有第一、第二和第三部分。

12.根据权利要求11所述的装置,其中所述共面波导管进一步包括:

第三金属化层,其具有第一、第二和第三部分;以及

第四组导电通孔,其在所述第二金属化层的所述第一和第三部分中的至少一者与所述第三金属化层之间形成。

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