[发明专利]包括具有增强的分析和调试能力的可编程逻辑分析仪的集成电路及方法

说明书

相关申请的交叉引用

根据37C.F.R.§1.78，本申请是部分连续申请并要求于2009年8月18日提交的题为“An Integrated Circuit Including a Programmable Logic Analyzer with Enhanced Analyzing and Debugging Capabilities and a Method Therefor”的申请序列号为12/542,976的较早提交日期的权益，其内容特此通过应用被全部并入。

背景

1．发明领域

本发明大体上涉及嵌入式逻辑分析仪，且特别地涉及用于分析电子电路的可编程嵌入式逻辑分析仪。

2．相关技术描述

逻辑分析仪是一种电子仪器，其被用来捕捉和显示电子电路的数据信号。通常，逻辑分析仪捕捉那些太快而不能被用户观察到的数据信号。用户观察由逻辑分析仪捕捉的数据信号，以有效地分析电子电路并采取抢先行动或基于所述分析进行调试。

逻辑分析仪可概括地分为外部逻辑分析仪和嵌入式逻辑分析仪。嵌入式逻辑分析仪一般被包括在可编程逻辑器件或集成电路（IC）例如复杂可编程逻辑器件（CPLD）、现场可编程门阵列（FPGA）、专用集成电路（ASIC）等内。嵌入式逻辑分析仪具有捕捉IC内的大量高速数据信号的能力。

嵌入式逻辑分析仪可以包括存储器，以存储所捕捉的数据信号。通常，嵌入式逻辑分析仪可编程来捕捉及存储由用户指定的数据信号。由嵌入式逻辑分析仪存储的数据信号可被传送到计算机，用于进一步的分析。数据信号通常通过设置在IC上的接口被传送到计算机。

图1是包括在集成电路（未示出）内的传统的嵌入式逻辑分析仪（ELA）100的框图。ELA100包括互连模块110以接收集成电路内的多个数据信号。互连模块110可编程来选择将被采样的多个信号以及选择至少一个触发信号以启用从所述多个接收到的信号中的采样。所述至少一个触发信号被传送到触发模块120。触发模块120可编程来设置触发条件以及检测所述至少一个触发信号是否满足触发条件。如果触发条件被满足，则触发模块120启动采样过程。采样过程启动时，存储器控制器130开始对将从互连模块110中被采样的多个信号进行采样。采样信号可被存储在存储器140中，用于进一步的分析。因此，ELA100操作以执行下面给出的通用代码：

如果（<触发条件>）则（采样信号（X）），

其中，所述触发条件是任何逻辑操作或一系列逻辑操作，且信号（X）是将被从互连模块110中被采样的所述多个信号。根据由ELA100执行的代码，当触发条件被满足时，ELA100采样至少一个采样信号并将采样信号存储在存储器140中。

然而，当触发条件被满足时，ELA不能执行采样以外的动作。此外，传统的ELA未捕捉、分析和/或调试软件数据或IC内的固件数据信号，而且额外的仪器可能是必要的，以便分析这些类型的数据。另外，为了对ELA编程或分析存储在ELA内的数据，要求用户出现在该ELA被安装的工作站。

因此，提供具有增强的分析和调试能力的ELA以避免上面提到的问题将是可取的。

发明概述

本公开的示例性实施方式克服了已知逻辑分析仪中的缺点，且从而满足了对用于有效地测试和调试系统的机制的显著需要。根据一种示例性实施方式，公开了一种通信地耦合在一系统内的集成电路，所述集成电路包括逻辑分析仪，所述逻辑分析仪具有输入端和输出端，输入端用于接收多个信号，输出端用于提供对通过所述逻辑分析仪检测到相对于所接收的信号中的至少一个接收的信号的至少一个触发事件的指示。所述集成电路还包括内置自测试（BIST）块，所述BIST块具有用于接收出现在逻辑分析仪的输入端的信号中的一个或多个的第一输入端和耦合到逻辑分析仪的输出端用于选择性地启用所述BIST块的第二输入端。BIST块基于BIST块的第一和第二输入端在其中生成并保持签名（signature）。通过基于出现在逻辑分析仪的输入端的所述一个或多个信号保持所生成的签名并将所生成的签名提供给逻辑分析仪用于事件触发或在其中的采样和存储，逻辑分析仪能够更有效地测试和调试系统。

另外的特征和优点将在随后的详细描述中被阐述，并且部分地，从该描述中，对本领域那些技术人员将是明显的，或者通过实践如本文所描述的本发明包括随后的详细描述、权利要求书以及附图将被认识到。