[发明专利]认证存储设备的方法、机器可读的存储介质、和主机设备

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于识别目标设备的认证方法和装置，并且更具体地，涉及一种用于认证存储设备的方法和装置。

背景技术

由于需要诸如数字版权管理（DRM）、复制保护等的技术来保护内容，所以需要认证包括诸如固态盘（SSD）和闪存卡等的非易失性存储器（NVM）设备的存储设备的技术。即，需要加密内容并认证存储设备的硬件（H/W）的适当性的技术。

虽然DRM技术、用于安全数码（SD）卡的记录介质内容保护（CPRM）技术、用于蓝光光盘的高级内容访问系统（AACS）提供了基于公钥基础设施（PKI）或密码技术的设备认证方法，但是难以防止对存储设备的克隆。

通常，存在一种在设计芯片的同时将水印或指纹插入到H/W的芯片中的技术，以便识别其中出现问题的H/W。但是，该技术是在问题发生后追踪盗版，不能预先防止克隆，在大量生产中效率低，并且难以被用作交易时认证设备的适当性的方法。

发明内容

技术问题

因此，考虑到上述问题做出本发明，并且本发明的一方面提供了预先防止克隆的方法，在大量生产上有效，并且在事务处理时验证设备的适当性。

技术方案

根据本发明的一方面，提供了一种用于主机设备认证具有多个单位存储区域的存储设备的方法，该方法包括：获得用于唯一地标识该存储设备的、与参考缺陷区域的位置分布关联的信息；采样存储设备的单位存储区域；从采样的区域当中识别具有物理缺陷的区域的位置分布；确定获得的位置分布和识别的位置分布之间的相似度；以及基于确定的结果来认证该存储设备。

根据本发明的另一方面，提供了一种机器可读的存储介质，其中记录了用于执行认证存储设备的方法的程序。

根据本发明的另一方面，提供了一种包括该机器可读的存储介质的主机设备。

有益效果

根据本发明的实施例，当利用存储设备的物理属性来认证设备等时，使用以下步骤之一或其组合可以最大化认证存储介质的效率：采样所有单位存储区域与的几个的步骤；更新采样步骤中使用的采样函数的步骤；和确定对于采样的区域的测试结果和参考物理属性之间的包含关系或相似度的步骤。

具体地，根据本发明的实施例，通过采样所有单位存储区域中的几个可以最大化认证步骤中的效率。此外，与对于所有单位存储区域执行的认证方法相比，通过应用随机采样函数，并利用大于或等于预定阈值的区域的信息，可以保证较低的冲突概率。

此外，根据本发明的实施例，通过更新采样函数，可以最小化由于采样函数的弱点和公开引起的克隆威胁。例如，当公开了预定采样函数确定地使用了物理属性的第二、第三和第十块信息的事实时，与克隆整个存储器相对，可以将克隆攻击的复杂性减少到克隆第二、第三和第十块信息。因此，本发明的实施例通过使用可变的采样并更新采样函数可以增加克隆攻击的复杂性。

附图说明

图1是示出根据本发明的实施例的认证系统的配置的图；

图2是示出图1的存储设备的详细配置的图；

图3是示出图1的控制器的详细配置的图；

图4是示出根据本发明的实施例的、认证存储设备的方法的流程图；

图5和图6是示出设置采样尺寸的步骤的图；

图7是示出基于设置的采样尺寸来采样单位存储区域的步骤的图；

图8是示出基于删除测试的、在存储器中存储的状态数据的例子的图；以及

图9是示出基于编程测试的、在存储器中存储的状态数据的例子的图。

具体实施方式

以下，将参照附图描述本发明的示范性实施例。在本发明的下面描述中，当会使对本发明的主题的不清楚时，将省略对合并于此的公知功能和配置的详细说明。

在使用储存设备或存储设备出售/出租高价值内容的情形中需要的最基本的安全技术是防止大规模非法H/W克隆的反克隆技术。为了增加H/W克隆攻击的复杂性，希望利用每个存储设备的唯一属性，即，具有较低冲突概率的物理属性。

但是，由于存储器尺寸增至几到几百千兆字节，所以使用整个存储器的物理属性是低效的。此外，使用预定的有限区域的方法可能减少克隆攻击的复杂性，因而可能不适当被用作为反克隆技术。