[发明专利]认证存储设备的方法、机器可读的存储介质、和主机设备有效
申请号: | 201180033643.0 | 申请日: | 2011-05-09 |
公开(公告)号: | CN102971984A | 公开(公告)日: | 2013-03-13 |
发明(设计)人: | 姜甫暻;高祯完;黄盛凞;李炳来 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | H04L9/32 | 分类号: | H04L9/32 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 张泓 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 认证 存储 设备 方法 机器 可读 介质 主机 | ||
1.一种用于主机设备认证具有多个单位存储区域的存储设备的方法,该方法包括:
获得用于唯一地标识该存储设备的、与参考缺陷区域的位置分布关联的信息;
采样存储设备的单位存储区域;
从采样的区域当中识别具有物理缺陷的区域的位置分布;
确定获得的位置分布和识别的位置分布之间的相似度;以及
基于确定的结果来认证该存储设备。
2.如权利要求1中所述的方法,其中,与参考缺陷区域的位置分布关联的信息与在存储设备中存储的坏块图案信息或坏单元图案信息对应。
3.如权利要求1中所述的方法,其中,采样步骤包括:
设置采样尺寸;以及
从该存储设备的所有单位存储区域当中采样与所述采样尺寸对应的单位存储区域。
4.如权利要求1中所述的方法,其中,随机地采样单位存储区域。
5.如权利要求1中所述的方法,其中,识别步骤包括:
对于采样的区域执行关于预定存储器操作的测试;以及
基于与该测试关联的返回值,确定识别的位置分布是否与获得的位置分布一样。
6.如权利要求1中所述的方法,其中,识别步骤包括:
对于采样的区域执行关于预定存储器操作的测试;以及
基于与该测试关联的返回值,确定识别的位置分布和获得的位置分布之间的一致率是否大于或等于预定阈值。
7.如权利要求1中所述的方法,进一步包括:
比较在存储设备中存储的第二采样函数的版本和在主机设备中存储的第一采样函数的版本;并且
当第一采样函数的版本低于第二采样函数的版本时,用第二采样函数来替换第一采样函数,
其中,基于替换的第二采样函数执行采样。
8.如权利要求1中所述的方法,进一步包括:
比较在通过网络连接的服务器中存储的第三采样函数的版本和在主机设备中存储的第一采样函数的版本;并且
当第一采样函数的版本低于第三采样函数的版本时,用第三采样函数替换第一采样函数,
其中,基于替换的第三采样函数执行采样。
9.如权利要求8中所述的方法,进一步包括:
比较替换的第三采样函数的版本和在存储设备中存储的第二采样函数的版本;并且
当第二采样函数的版本低于第三采样函数的版本时,用第三采样函数替换第二采样函数。
10.如权利要求7中所述的方法,进一步包括:
基于在存储设备中存储的采样函数选择信息,选择在主机设备中存储的多种采样函数之一,
其中,第一采样函数是所选择的采样函数。
11.如权利要求1中所述的方法,进一步包括:
基于在存储设备中存储的采样函数选择信息,接收在通过网络连接的服务器或存储设备中存储的采样函数,
其中,基于接收的采样函数执行采样。
12.一种机器可读的存储介质,其中记录了用于执行如权利要求1至11的任何一个所述的、用于认证存储设备的方法的程序。
13.一种主机设备,包括权利要求12的机器可读的存储介质。
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