[发明专利]存储设备测试系统内的阻尼振动

说明书

相关专利申请的交叉引用

本专利申请要求提交于2010年6月17日的美国专利申请No.12/817,614的优先权，所述专利申请的内容据此全文以引用方式并入。

技术领域

本公开涉及存储设备测试系统中的阻尼振动。

背景技术

存储设备制造商通常会测试所制造的存储设备是否符合一系列要求。存在串行或并行测试大量存储设备的测试设备和技术。制造商往往会同时或分批地测试大量存储设备。储设备测试系统通常包括一个或多个测试器支架，所述一个或多个测试器支架具有接纳要进行测试的存储设备的多个测试槽。在一些情况下，存储设备设置在托架中，所述托架用于将存储设备装载至测试支架和从测试支架卸载存储设备。

调节紧邻存储设备的测试环境。对于精确的测试条件和存储设置的安全性而言，测试环境中的最小温度波动可为至关重要的。另外，具有较高容量、较快旋转速度和较小磁头间隙的最新代磁盘驱动器对振动较为敏感。过度振动可影响测试结果的可靠性和电连接的完整性。在测试条件下，驱动器自身可通过支承结构或固定装置将振动传播到相邻单元。此振动“串扰”和外部振动源一起会造成碰撞故障、磁头松动和非重复性脱离磁道(NRRO)，从而可能导致较低的产量和增加的制造成本。当前的存储设备测试系统采用自动化和结构化支承系统，所述自动化和结构化支承系统会造成系统中的过度振动并且/或者需要大的占用空间。

发明内容

整体上，本发明涉及测试槽托架以及相关的设备、系统和方法。

在一个方面，存储设备测试槽包括壳体。壳体限定用于接纳要进行测试的存储设备的测试室。测试槽还包括连接（如，使用粘合剂、紧固件等一体地形成或耦合）到壳体的一个或多个调谐质量阻尼器。一个或多个调谐质量阻尼器被构造为抑制壳体以一种或多种预定频率振动。

实施例可包括以下一个或多个特征。

在一些情况下，一个或多个调谐质量阻尼器包括连接到壳体的横梁。横梁一体地连接到壳体（如，与壳体一起模制、加工或以其他方式成形）。横梁包括被构造为相对于彼此滑动的两个或更多个层。横梁包括悬臂梁。一个或多个调谐质量阻尼器还包括耦合到横梁的重物。该重物与横梁成一整体。一个或多个调谐质量阻尼器还包括设置在横梁与重物之间的一层吸能材料。吸能材料包括弹性体、粘弹性粘合剂和/或粘滞液体。一个或多个调谐质量阻尼器还包括固定到吸能层表面的一层大体刚性的材料。所述大体刚性的材料设置在吸能层与重物之间。一种或多种预定频率与壳体的一种或多种振动模式相关。测试室被构造为接纳并支承用于携带要测试的存储设备的存储设备输送器。一个或多个调谐质量阻尼器连接到壳体的外表面。一个或多个调谐质量阻尼器连接到壳体的内表面。

实施例可包括以下一个或多个优点。

向存储设备测试槽中添加一个或多个调谐质量阻尼器可以显著减小存储设备测试槽以一种或多种预定频率的振动。调谐质量阻尼器的总体设计使得可将其设计成对存储设备测试槽的若干模式进行衰减。可以调整悬臂梁、金属重物、刚性层和吸能层的尺寸和特性，以使得阻尼器具有的以若干频率进行振动的振动模式可与存储设备测试槽的若干棘手的振动模式相匹配。

附图说明

图1为存储设备测试系统的透视图。

图2A为测试支架的透视图。

图2B为得自图2A的测试支架的托架容器的详细透视图。

图3A和3B为测试槽托架的透视图。

图4为测试槽组件的透视图。

图5为存储设备测试系统的俯视图。

图6为存储设备测试系统的透视图。

图7A和7B为存储设备输送器的透视图。

图8A为支承存储设备的存储设备输送器的透视图。

图8B为接纳存储设备的存储设备输送器的透视图。

图8C为携带被对准插入到测试槽内的存储设备的存储设备输送器的透视图。

图9为测试电路的示意图。

图10A、10B和11为测试槽的透视图。

图12为包括调谐质量阻尼器的测试槽的透视图。

图13为测试槽上的调谐质量阻尼器的放大透视图。

图14为示出使用和不使用调谐质量阻尼的振动测量的曲线图。

不同附图中的类似参考符号表示类似的元件。

具体实施方式

系统概述