[发明专利]存储设备测试系统内的阻尼振动

权利要求书

1.一种存储设备测试槽，包括：

壳体，其限定用于接纳要进行测试的存储设备的测试室；以及

连接到所述壳体的一个或多个调谐质量阻尼器，所述一个或多个调谐质量阻尼器被构造为抑制所述壳体以一种或多种预定频率振动。

2.根据权利要求1所述的存储设备测试槽，其中所述一个或多个调谐质量阻尼器包括连接到所述壳体的横梁。

3.根据权利要求2所述的存储设备测试槽，其中所述横梁一体地连接到所述壳体。

4.根据权利要求2所述的存储设备测试槽，其中所述横梁包括被构造为相对于彼此滑动的两个或更多个层。

5.根据权利要求2所述的存储设备测试槽，其中所述横梁包括悬臂梁。

6.根据权利要求2所述的存储设备测试槽，其中所述一个或多个调谐质量阻尼器还包括连接到所述横梁的重物。

7.根据权利要求6所述的存储设备测试槽，其中所述重物一体地连接到所述横梁（如，与所述横梁一起模制、加工或以其他方式成形）。

8.根据权利要求6所述的存储设备测试槽，其中所述一个或多个调谐质量阻尼器还包括设置在所述横梁与所述重物之间的一层吸能材料。

9.根据权利要求8所述的存储设备测试槽，其中所述吸能材料选自：弹性体、粘弹性粘合剂以及粘滞液体。

10.根据权利要求8所述的存储设备测试槽，其中所述一个或多个调谐质量阻尼器还包括固定到所述吸能层表面的一层大体刚性的材料。

11.根据权利要求1所述的存储设备测试槽，其中所述一种或多种预定频率与所述壳体的一种或多种振动模式相关。

12.根据权利要求1所述的存储设备测试槽，其中所述测试室被构造为接纳并支承用于携带要测试的存储设备的存储设备输送器。

13.根据权利要求1所述的存储设备测试槽，其中所述一个或多个调谐质量阻尼器连接到所述壳体的外表面。

14.根据权利要求1所述的存储设备测试槽，其中所述一个或多个调谐质量阻尼器连接到所述壳体的内表面。