[发明专利]用于支承和驱动计算机X光断层扫描仪的机架的可倾斜部件的装置和计算机X光断层扫描仪

权利要求书

1.一种用于相对计算机X光断层扫描仪(1)的机架(2)的支座(5)支承和驱动该计算机X光断层扫描仪(1)的具有倾翻轴线(K)的机架(2)的部件(3、4)的装置(15、215)，所述装置具有

-用于相对所述机架(2)的支座(5)磁性支承所述机架(2)的能够倾斜的部件(3、4)的器件(22、24、27、30)，和

-用于相对所述机架(2)的支座(5)电磁驱动所述机架(2)的能够倾斜的部件(3、4)的器件(22、24)。

2.按照权利要求1所述的装置，其中，所述用于相对所述机架(2)的支座(5)磁性支承所述机架(2)的能够倾斜的部件(3、4)的器件(22、24、27、30)相对所述倾翻轴线(K)构成至少一个径向轴承(20、200)和至少一个轴向轴承(18、19)。

3.按照权利要求1或2所述的装置，其中，所述用于相对所述机架(2)的支座(5)磁性支承所述机架(2)的能够倾斜的部件(3、4)的器件(22、24、27、30)包括至少一个永磁体(24)、至少一个具有线圈的电磁体(22、30)和/或至少一个由铁磁材料制成的元件，并且所述用于相对所述机架(2)的支座(5)电磁驱动所述机架(2)的能够倾斜的部件(3、4)的器件(22、24)包括至少一个具有线圈的电磁体(22)。

4.按照权利要求2或3所述的装置，其中，所述径向轴承(20、200)和/或用于电磁驱动的器件(22、24)具有沿径向位于外侧的第一环形径向装置(21、321)，该第一环形径向装置(21、321)由永磁体、电磁体(22)和/或铁磁材料制成的元件构成并且配属于所述机架(2)的支座(5)；所述径向轴承(20、200)和/或用于电磁驱动的器件(22、24)还具有沿径向位于内侧的第二环形径向装置(23、323)，该第二环形径向装置(23、323)由永磁体(24)、电磁体和/或铁磁材料制成的元件构成并且配属于所述机架(2)的可倾斜部件(3、4)，其中，在所述第一和第二环形径向装置(21、23)之间存在环形的径向轴承间隙(31、121)。

5.按照权利要求2至4之一所述的装置，其中，所述至少一个轴向轴承(18、19)具有至少一个第一环形轴向装置(26、28)，该第一环形轴向装置(26、28)由永磁体、电磁体(30)和/或铁磁材料制成的元件构成并且配属于所述机架(2)的支座(5)；所述至少一个轴向轴承(18、19)还具有至少一个由永磁体、电磁体和/或铁磁材料制成的元件构成的第二环形轴向装置或由铁磁材料制成的环形元件(27)，该第二环形轴向装置或该环形元件(27)配属于所述机架(2)的可倾斜部件(3、4)，所述至少一个第一轴向装置(26)和所述至少一个第二轴向装置或者所述至少一个第一轴向装置(26)和所述由铁磁材料制成的环形元件(27)在轴向上沿所述倾翻轴线(K)的方向相互错开以构成环形的轴向轴承间隙(32、33)。

6.按照权利要求4或5所述的装置，所述装置具有用于检测所述径向轴承间隙(31、121)和/或所述轴向轴承间隙(32、33)的宽度的变化的检测器件(34、35)。

7.按照权利要求6所述的装置，其中，所述检测器件具有至少一个霍尔传感器(34、35)和/或电感或电容工作的传感器。

8.按照权利要求3至7之一所述的装置，其中，在将所述电磁体(22、30)用于磁性支承的情况中，对所述径向轴承间隙(31、121)和/或所述轴向轴承间隙(32、33)的宽度变化的检测基于对一个或多个电磁体(22、30)的线圈的电感的影响实现。

9.按照权利要求2至8之一所述的装置，其中，所述径向轴承(200)设置在第一平面(E1)和所述用于电磁驱动所述机架(2)的能够相对所述机架(2)的支座(5)倾斜的部件(3、4)的器件(22、24)设置在沿所述倾翻轴线(K)的方向相对于所述第一平面(E1)错开的第二平面(E2)中。

10.按照权利要求2至8之一所述的装置，其中，所述用于电磁驱动所述机架(2)的能够相对所述机架(2)的支座(5)倾斜的部件(3、4)的器件(22、24)集成在所述径向轴承(20)中。