[发明专利]分子间相互作用的检测方法及其检测装置有效
| 申请号： | 201180012931.8 | 申请日： | 2011-02-10 |
| 公开（公告）号： | CN102792149A | 公开（公告）日： | 2012-11-21 |
| 发明（设计）人： | 柏崎治;新勇一;泉谷直干 | 申请（专利权）人： | 柯尼卡美能达先进多层薄膜株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/27 | 分类号： | G01N21/27;G01N33/483 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 李洋;杨林森 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 分子 相互作用 检测 方法 及其 装置 | ||
1.一种分子间相互作用的检测方法，其特征在于，包括：
以一定的波长间隔计算反射率来求出反射光谱的步骤；
将所述反射光谱近似为高阶函数的步骤；
从所述高阶函数中选择包含最小的反射率的波长区间的步骤；
在所述波长区间中，将所述高阶函数近似为阶次比该高阶函数低的二次函数的步骤；以及
用波长对所述二次函数进行微分，求出微分值为0的解的步骤。
2.一种分子间相互作用的检测方法，其特征在于，包括：
以一定的波长间隔计算反射率来求出反射光谱的步骤；
对所述反射光谱进行滤波的步骤；
从滤波后的所述反射光谱中选择包含最小的反射率且以拐点为边界的第1波长区间的步骤；
在所述第1波长区间中，将滤波后的所述反射光谱近似为高阶函数的步骤；
从所述高阶函数中选择包含最小的反射率的第2波长区间的步骤；
在所述第2波长区间中，将所述高阶函数近似为阶次比该高阶函数低的二次函数的步骤；以及
用波长对所述二次函数进行微分，求出微分值为0的解的步骤。
3.一种分子间相互作用的检测装置，其特征在于，具备：
检测器，其具有配位体；
白色光源，其向所述检测器照射白色光；
分光器，其检测来自所述检测器的反射光；以及
控制装置，其控制所述白色光源与所述分光器，所述控制装置以一定的波长间隔计算反射率来求出反射光谱，将所述反射光谱近似为高阶函数，从所述高阶函数中选择包含最小反射率的波长区间，在所述波长区间中将所述高阶函数近似为阶次比该高阶函数低的二次函数，用波长对所述二次函数进行微分，求出微分值为0的解。
4.一种分子间相互作用的检测装置，其特征在于，具备：
检测器，其具有配位体；
白色光源，其向所述检测器照射白色光；
分光器，其检测来自所述检测器的反射光；以及
控制装置，其控制所述白色光源与所述分光器，所述控制装置以一定的波长间隔计算反射率来求出反射光谱，对所述反射光谱进行滤波，从滤波后的所述反射光谱中选择包含最小的反射率且以拐点为边界的第1波长区间，在所述第1波长区间中，将滤波后的所述反射光谱近似为高阶函数，从所述高阶函数中选择包含最小反射率的第2波长区间，在所述第2波长区间中，将所述高阶函数近似为阶次比该高阶函数低的二次函数，用波长对所述二次函数进行微分，求出微分值为0的解。
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