[实用新型]一种背面点接触晶硅太阳电池有效
申请号: | 201120554486.5 | 申请日: | 2011-12-27 |
公开(公告)号: | CN202585429U | 公开(公告)日: | 2012-12-05 |
发明(设计)人: | 胡海平;班群;康凯;陈刚 | 申请(专利权)人: | 广东爱康太阳能科技有限公司 |
主分类号: | H01L31/0224 | 分类号: | H01L31/0224;H01L31/0216 |
代理公司: | 广州三环专利代理有限公司 44202 | 代理人: | 颜希文 |
地址: | 528100 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 背面 点接触 太阳电池 | ||
技术领域
本实用新型涉及太阳电池技术领域,特别涉及一种背面点接触晶硅太阳电池。
背景技术
太阳电池是一种利用光生伏打效应把光能转换成电能的器件,在这个光电转换过程中,损耗主要为:光损耗和电损耗。光损耗主要来自前表面的反射损失和后表面较弱的反射,电损耗主要来自光子激发的电子、空穴对复合,前表面、发射极和后表面是主要的电子、空穴对复合区域。目前,晶硅太阳电池一般采用高方阻的发射极或者选择性发射极结构,且太阳电池的前表面设有钝化效果良好的氮化硅层,这些技术的应用降低了前表面电子、空穴复合速率,降低了该区的电损耗。而背表面设有铝背场,铝背场的钝化是通过在硅片背面形成高低结(即PP+结构)。高低结的电场强度与形成的铝硅合金厚度相关,一般,越厚的铝硅合金层,则电场强度越强,其反弹电子的能力越强,钝化效果则越好。然而,目前的硅片较薄,一般为180um,厚的铝层将在背面产生较大的应力导致电池片较大的弯曲,将增加模组封装难度和碎片率。此外,铝在硅的固溶度较低,这导致难以形成强电场,大量的电子、空穴对在铝硅接触处及背面复合,降低了太阳电池的光电转换效率。
因此,在常规的铝背场晶硅太阳电池中,由于铝背场的钝化效果较差,较大背表面复合速率,这是制约常规晶硅太阳电池光电转换的一个重要因素。
发明内容
本实用新型实施例所要解决的技术问题在于,提供一种背面点接触晶硅太阳电池,其形成的点接触-结构降低了背表面电子、空穴对的复合速率,提高了少子寿命,提高了光电转换效率,且工艺简单、设备投资少、生产效率高、适用于工业化大规模生产。
为达到上述技术效果,本实用新型实施例提供了一种背面点接触晶硅太阳电池,所述太阳电池采用P型硅片为硅衬底作为所述太阳电池的基区;
所述硅衬底的前表面由内至外依次设有发射极和前表面氮化硅层;
所述硅衬底的背表面由内至外依次设有钝化层和银点;
所述银点为在所述钝化层表面通过印刷银浆而形成的点。
作为上述方案的改进,所述银点为在所述钝化层表面通过丝网印刷银浆而形成的点。
作为上述方案的改进,所述银点的间距为300~2500um。
作为上述方案的改进,所述银点为圆点;
所述银点的直径为40~80um,高度为8~40um。
作为上述方案的改进,所述钝化层为氮化硅钝化膜或氮化硅和二氧化硅双层钝化膜。
作为上述方案的改进,所述氮化硅钝化膜的折射率为2.0~2.5,厚度为40~120nm;
所述氮化硅和二氧化硅双层钝化膜中,所述氮化硅钝化膜的厚度为40~120nm,所述二氧化硅钝化膜的厚度为70~150nm。
作为上述方案的改进,所述发射极为N型发射极。
作为上述方案的改进,所述硅衬底的背表面设有铝层。
作为上述方案的改进,所述硅衬底的前表面设有正银层;所述正银层上设有正银极。
实施本实用新型具有如下有益效果:
本实用新型一种背面点接触晶硅太阳电池,在P型硅片表面设有电介质氮化硅薄膜,或者二氧化硅和氮化硅双层膜,形成钝化层。并在钝化层表面通过印刷具有腐蚀性的银浆,优选地,在钝化层表面通过丝网印刷具有腐蚀性的银浆,且在烘干背面再印刷铝浆。再通过高温快烧,银浆腐蚀、烧蚀钝化层,并贯穿钝化层,最后在硅衬底表面形成银接触点,连接硅衬底与铝背层,从而实现背面点接触结构。具有背面点接触结构的太阳电池,钝化能力强,有效减少背面电子、空穴对的复合,从而减少电损耗,进而提高光电转换效率。
除此之外,本实用新型一种背面点接触晶硅太阳电池的制备工艺简单、设备投资少、生产效率高、适用于工业化大规模的生产。
附图说明
图1为本实用新型一种背面点接触晶硅太阳电池的结构示意图;
图2为本实用新型一种背面点接触晶硅太阳电池的又一结构示意图。
具体实施方式
为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本实用新型作进一步地详细描述。
如图1所示,本实用新型实施例提供了一种背面点接触晶硅太阳电池1,所述太阳电池1采用P型硅片为硅衬底11作为所述太阳电池的基区;
所述硅衬底11的前表面由内至外依次设有发射极12和前表面氮化硅层13;
所述硅衬底11的背表面由内至外依次设有钝化层14和银点15;
所述银点15为在所述钝化层14表面通过印刷银浆而形成的点。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的