[实用新型]一种高压整流二极管性能检测电路

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种高压整流二极管性能检测电路。 

背景技术

二极管作为最基本的半导体分立元件，在各种电子产品中大量使用。在生产环节，每一个二极管产品都必须经过检测，才能够保证它被组装进电路中后能够稳定工作。作为生产线上二极管基本参数的测试设备，目前广泛使用的是继电器切换电路，存在机械寿命及动作速度问题，并且因为触点拉弧原因，难于处理高压测试过程。同时，在生产线的连续生产过程中无法实现高温态下的反向漏流指标检测，导致二极管在实际工作中会有少量产品出现问题。 

发明内容

本实用新型针对现有技术的不足，提供了一种高压整流二极管性能检测控制电路。 

为实现上述目的，本实用新型可采取下述技术方案：一种高压整流二极管性能检测控制电路，包括整流电路、被测二极管DT及绝缘栅双极型晶体管，所述整流电路B1一端与外置可控恒流源相连，另一端与被测二极管DT阳极相连，被测二极管DT阴极与绝缘栅双极型晶体管T2集电极相连，绝缘栅双极型晶体管T2发射极接地，绝缘栅双极型晶体管T2栅极与外置信号源相连。     

另一方面，被测二极管DT阳极与电阻R1一端相连，电阻R1另一端与三极管T1集电极相连，三极管T1基极与电阻R2一端相连，三极管T1发射极接地，被测二极管DT阴极与二极管D1阴极相连，二极管D1阳极与外置可控高压源相连，电阻R2另一端与外置信号源相连。

本实用新型的高压整流二极管性能检测控制电路提高了二极管生产线上基本参数连续测试的速度，解决了机械继电器测试速度瓶颈问题；同时能够提供大电流瞬态脉冲加热PN结功能，完成关键的高温下二极管反向漏电流指标的测试。 

附图说明

图1为本实用新型的电路图。 

具体实施方式

实施例1，下面参照附图说明本实用新型的实施方式。一种高压整流二极管性能检测电路，可以实现被测二极管DT的正向测试功能和反向测试功能。正向测试电路包括整流电路B1、被测二极管DT及绝缘栅双极型晶体管T2，整流电路B1为耐压1000V以上，电流20A以上的整流桥，它作为耐压2000V以上，工作电流40A以上的等效二极管使用，整流电路B1设计成高反向耐压器件的目的是保证一旦高压测试中R1与T1断路，可以保护外置可控恒流源免遭高压击穿。整流电路B1一端与外置可控恒流源在A处相连，另一端与被测二极管DT阳极相连，被测二极管DT阴极与绝缘栅双极型晶体管T2集电极相连，绝缘栅双极型晶体管T2发射极接地，绝缘栅双极型晶体管T2栅极与外置信号源在D处相连，外置可控恒流源可提供三种工作电流，分别为I1、I2、I3 ，I1为1-10mA小电流，I2是0.1-6A电流，I3是1-50A大电流。外置信号源提供控制信号CT1控制打开T2，根据需要加载I1、I2或者I3，电流稳态后，测试被测二极管DT两端电压。当加载电流为 I1，可以测试二极管通断功能及二极管PN结压降；当加载电流为 I2，可以测试二极管满负荷工作下的结电压等参数。当加载电流为 I3，可以提供浪涌测试电流，同时也可以瞬间用来加热PN结，人为将其加热到150℃然后测量其反向漏电流指标；反向测试电路包括二极管D1、三极管T1及电阻R2，被测二极管DT与电阻R1一端相连，电阻R1另一端与三极管T1集电极相连，三极管T1基极与电阻R2一端相连，三极管T1发射极接地，二极管DT阴极与二极管D1阴极相连，二极管D1阳极与外置可控高压源在B处相连，电阻R2另一端与外置信号源在C处相连，撤销外置可控恒流源，打开绝缘栅双极型晶体管T2 ，关闭三极管T1，加载外置可控高压源，外置信号源提供输入信号CT2，通过测量采样电阻R1两端电压得到被检测二极管反向漏电流。