[实用新型]一种高压整流二极管性能检测电路有效
申请号: | 201120510062.9 | 申请日: | 2011-12-09 |
公开(公告)号: | CN202421433U | 公开(公告)日: | 2012-09-05 |
发明(设计)人: | 梁伟 | 申请(专利权)人: | 绍兴文理学院 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
代理公司: | 杭州裕阳专利事务所(普通合伙) 33221 | 代理人: | 应圣义 |
地址: | 312000 *** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高压 整流二极管 性能 检测 电路 | ||
1.一种高压整流二极管性能检测电路,其特征在于:包括整流电路B1、被测二极管DT及绝缘栅双极型晶体管T2,所述整流电路B1一端与外置可控恒流源相连,另一端与被测二极管DT阳极相连,被测二极管DT阴极与绝缘栅双极型晶体管T2集电极相连,绝缘栅双极型晶体管T2发射极接地,绝缘栅双极型晶体管T2栅极与外置信号源相连。
2.根据权利要求1所述的一种高压整流二极管性能检测电路,其特征在于:所述被测二极管DT阳极与电阻R1一端相连,电阻R1另一端与三极管T1集电极相连,三极管T1基极与电阻R2一端相连,三极管T1发射极接地,被测二极管DT阴极与二极管D1阴极相连,二极管D1阳极与外置可控高压源相连,电阻R2另一端与外置信号源相连。
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