[实用新型]一种用于检测背接触电池片的检测装置有效
| 申请号： | 201120355546.0 | 申请日： | 2011-09-21 |
| 公开（公告）号： | CN202259207U | 公开（公告）日： | 2012-05-30 |
| 发明（设计）人： | 蒋林;王栩生;章灵军 | 申请（专利权）人： | 苏州阿特斯阳光电力科技有限公司;阿特斯（中国）投资有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66;H01L31/18 |
| 代理公司： | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人： | 陶海锋;陆金星 |
| 地址： | 215129 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 检测 接触 电池 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于检测背接触电池片的检测装置，其特征在于：从下至上依次包括底框(1)和检测片(2)，
所述底框上设有至少2个定位柱(4)，底框的相邻两条边上各设有一定位条(5)，相邻定位条相互垂直；
所述检测片上设有定位孔(6)和镂空条(7)，定位孔与所述定位柱配合，镂空条与所述定位条配合；
所述检测片上设有通孔，通孔的数量和排布与待测背接触电池片的通孔相同。
2.根据权利要求1所述的用于检测背接触电池片的检测装置，其特征在于：所述检测片的上方还设有玻璃板(3)，玻璃板上设有与定位柱配合的定位孔(6)、以及与定位条配合的镂空条(7)。
3.根据权利要求1所述的用于检测背接触电池片的检测装置，其特征在于：所述定位柱为4个，分布于底框的四角。
4.一种用于检测背接触电池片的检测装置，其特征在于：从下至上依次包括底框、检测片和玻璃板，
所述底框上设有至少2个定位柱，
所述检测片和玻璃板上均设有定位孔，定位孔与所述定位柱配合，使检测片和玻璃板通过定位柱串接定位于底框上；
所述玻璃板的相邻两条边上各设有一定位条，相邻定位条相互垂直；
所述检测片上设有通孔，通孔的数量和排布与待测背接触电池片的通孔相同。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
