[实用新型]轴瓦半径高和平行度自动检测装置有效

专利信息
申请号: 201120319204.3 申请日: 2011-08-29
公开(公告)号: CN202204501U 公开(公告)日: 2012-04-25
发明(设计)人: 郭祥振;李芳;檀学莹 申请(专利权)人: 机科发展科技股份有限公司
主分类号: G01B21/10 分类号: G01B21/10;G01B21/22
代理公司: 北京纽乐康知识产权代理事务所 11210 代理人: 唐忠庆
地址: 100044*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 轴瓦 半径 平行 自动检测 装置
【权利要求书】:

1.一种轴瓦半径高和平行度自动检测装置,包括机座(1),其特征在于:所述机座(1)的顶面靠近左端处设有顶升脱离检验模机构(2),顶升脱离检验模机构(2)的右侧设有轴瓦检验模具(3),轴瓦检验模具(3)的右侧设有两个双摆动压板机构(4),两个双摆动压板机构(4)与轴瓦检验模具(3)之间固定轴瓦(5),双摆动压板机构(4)的顶面、底面以及外侧分别设有三个高精度位移传感器(6),其中位于双摆动压板机构(4)顶面和底面的两个高精度位移传感器(6)为平行度检测传感器(7),位于双摆动压板机构(4)外侧的高精度位移传感器(6)为半径高检测传感器(8),双摆动压板机构(4)的右侧设有压力传感器(9),压力传感器(9)的右侧设有施力机构(10)。

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