[实用新型]一种光学检测装置及玻璃基板检测系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及液晶显示技术领域，特别涉及一种光学检测装置及玻璃基板检测系统。

背景技术

目前，如图1所示，对基板载台1上的玻璃基板2进行检测时，玻璃基板检测装置3距离玻璃基板2上表面的距离大约为100微米。

然而，生产玻璃基板2的过程中无法避免破碎，玻璃破碎时玻璃渣可能会溅到玻璃基板2的上表面。如图2所示，玻璃基板检测装置3距离玻璃基板2只有100微米，当玻璃基板检测装置3沿着箭头方向移动时，很小的杂质4(如玻璃渣、较大灰尘等)很容易会对玻璃基板检测装置3造成划伤和损坏。该玻璃基板检测装置3的价格昂贵、而且安装困难，若被划伤则不但降低了检测质量，而且将显著提高生产成本。

实用新型内容

本实用新型实施例提供的一种光学检测装置及玻璃基板检测系统，可以在对玻璃基板进行扫描检测前，确定出玻璃基板表面的杂质，从而保护玻璃基板检测装置。

本实用新型实施例提供一种光学检测装置，包括：

位于玻璃基板2外侧的、沿着所述玻璃基板2上表面向至少两个方向发出光线的发光组件5，所述发光组件5的每个发光面发出的光线均覆盖所述玻璃基板2上表面；

接收所述发光组件5发出的光线的收光组件6；

与所述收光组件6连接，根据所述收光组件6接收的光线确定杂质位置的确定组件7。

较佳的，所述发光组件5包括一个线光源时，所述线光源具有至少一个弯折角，形成至少两个发光面，向至少两个方向发出光线。

较佳的，所述发光组件5包括第一线光源和第二线光源，所述第一线光源和第二线光源的发光面发出的光线具有交点。

较佳的，所述第一线光源的发光面与所述第二线光源的发光面发出的光线垂直。

较佳的，当所述玻璃基板2为矩形时，第一线光源的发光面面向所述玻璃基板2的宽边，且第一线光源的长度不小于所述玻璃基板2的宽边的长度；第二线光源的发光面面向所述玻璃基板2的长边，且第二线光源的长度不小于所述玻璃基板2的长边的长度。

较佳的，当所述玻璃基板2为多边形时，第一线光源的发光面面向所述玻璃基板2外接矩形框的宽边，且第一线光源的长度不小于所述玻璃基板2外接矩形框的宽边的长度；第二线光源的发光面面向所述玻璃基板2外接矩形框的长边，且第二线光源的长度不小于所述玻璃基板2的外接矩形框的长边的长度。

较佳的，所述发光组件5包括的光源数目大于两个时，至少一个线光源的发光面发出的光线与其余线光源的发光面发出的光线具有交点。

所述发光组件5与玻璃基板2上表面所在平面的垂直距离小于100微米。

所述收光组件6与所述发光组件5位于同一平面，所述收光组件6的数目与所述发光组件5中的光源数目相同，且位置与所述光源的位置相对应。

本实用新型实施例提供的一种玻璃基板检测系统，包括：检测所述玻璃基板的玻璃基板检测装置3，还包括：检测玻璃基板上表面杂质位置的光学检测装置8。

较佳的，所述系统还包括：控制所述玻璃基板检测装置跳过杂质的控制装置9。

较佳的，所述系统还包括：清除所述玻璃基板上的杂质的清除装置10。

本实用新型实施例提供的光学检测装置及玻璃基板检测系统，利用光的直线传播，通过两个方向的光线确定杂质的位置，进而可以控制玻璃基板检测装置跳过该杂质，避免被该杂质造成划伤或损坏，确保玻璃基板的检测质量。而且，光的传播速度较快，检测杂质的时间较短，由此与其他检测手段相比，检测效率较高。确定杂质位置后还可以将该杂质去除，彻底消除对玻璃基板检测装置的损伤。

附图说明

图1为现有技术中对玻璃基板进行检测的示意图；

图2为现有技术中玻璃基板检测装置进行检测的过程示意图；

图3为本实用新型实施例中光学检测装置的结构示意图；

图4a-图4b为本实用新型实施例中发光组件的结构示意图；

图5为本实用新型实施例中发光组件中两个光源的位置示意图；

图6为本实用新型实施例中玻璃基板为矩形时，发光组件的位置示意图；

图7为本实用新型实施例中玻璃基板为多边形时，发光组件的位置示意图；

图8为本实用新型实施例中发光组件和收光组件的位置示意图；

图9为本实用新型另一实施例中发光组件和收光组件的位置示意图；

图10为本实用新型实施例中光学检测装置的结构示意图；

图11为本实用新型另一实施例中光学检测装置的结构示意图；