[发明专利]引导信息处理系统的方法和执行该方法的信息处理系统

说明书

相关申请的交叉引用

本申请要求2011年1月25日在韩国知识产权局(KIPO)递交的第2011-0007119号韩国专利申请的优先权，其全部内容通过引用被包含完全包含于此。

技术领域

本发明概念涉及引导信息处理系统的方法和执行该方法的信息处理系统。更具体地，本发明概念涉及通过选择性地测试信息处理系统中的易失性存储器系统来减少引导时间。

背景技术

信息处理系统复杂性的增加已导致信息处理系统引导时间的相应的增加。相反，信息处理系统的客户已要求与系统复杂性程度无关地能够尽可能快地激活和使用的信息处理系统。因此，需要减少引导时间

发明内容

在本发明概念的实施例中，一种对包括在引导操作期间被选择性地测试的非易失存储器器件的信息处理系统进行引导的方法，该方法包含：从信息处理系统读取当前系统配置信息的步骤；把当前系统配置信息与非易失存储器器件中相应的预先存储的系统配置信息比较的步骤；以及根据比较结果选择性地执行对易失性存储器器件的测试的步骤。

在进一步的实施例中，信息处理系统包括处理器、电路板和易失性存储器器件作为系统配置。易失性存储器器件是多个动态随机存取存储器(DRAM)的存储器模块。或者，易失性存储器器件是一个或多个移动动态随机存取存储器(DRAM)。存储器模块包括串行存在检测(SPD)存储器的非易失性存储器器件。或者，非易失性存储器器件是基本输入输出系统(BIOS)存储器器件。

在进一步的实施例中，读取当前系统配置信息的步骤包含从处理器提取处理器的当前序列号的步骤，从BIOS存储器器件提取电路板的当前序列号的步骤；以及从串行存在检测(SPD)存储器器件提取存储器模块的当前序列号的步骤。

在进一步的实施例中，选择性地执行测试的步骤包含步骤：如果当前系统配置信息不和预先存储的系统配置信息匹配，则执行用于检查易失性存储器器件的存储器单元的测试；把执行用于检查存储器单元的测试的步骤的测试结果存储在非易失性存储器器件中；以及把当前系统配置信息存储在非易失性存储器器件中。执行检查存储器单元的测试的步骤由内置自测逻辑执行。选择性地执行测试的步骤还包含用于优化连接到易失性存储器器件的信道的信号完整性的训练步骤。选择性地执行测试的步骤还包含以下步骤：如果当前系统配置信息和相应的存储的系统配置信息匹配，则把预先存储在非易失性存储器器件中的测试结果应用于信息处理系统而不执行用于检查存储器单元的测试和用于优化信道的信号完整性的训练。

在本发明概念的另一实施例中，一种对包括易失性存储器器件的信息处理系统进行引导的方法包含监视用于测试易失性存储器器件的触发条件的步骤。所述方法还包含以下步骤：如果检测到触发条件，则执行用于检查易失性存储器器件中的失效存储器单元的测试和用于优化连接到易失性存储器器件的信道的信号完整性的训练。所述方法还包含以下步骤：如果未检测到触发条件，则跳过用于检查失效的存储器单元的测试和用于优化信道的信号完整性的训练。

在进一步的实施例中，触发条件是系统配置变化、工作温度变化的预定量、先前操作的异常终止、和在不测试易失性存储器设备的情况下连续引导操作的预定数量中的一个或多个。系统配置变化是当前引导操作中的处理器、电路板和易失性存储器器件的序列号与存储在非易失性存储器器件中的处理器、电路板和易失性存储器设备的序列号的任何变化。工作温度的变化是存储在非易失性存储器器件的工作温度和当前引导操作的工作温度之间的预定量的差。异常终止是通过检查指示信息处理系统在先前操作中如何终止的终止标志来检测的。

在进一步的实施例中，所述方法还包含把引导计数和连续引导操作的预定数量进行比较的步骤；以及每次在信息处理系统被引导而在先前引导操作期间未测试易失性存储器器件时把引导计数增加1的步骤。

在本发明概念的另一实施例中，一种信息处理系统包含：电路板；安装在电路板上的处理器；安装在电路板上并耦合到处理器的易失性存储器器件；以及被配置成存储电路板、处理器和易失性存储器器件的序列号的非易失性存储器器件，其中，处理器被配置成用于监视测试易失性存储器器件的触发条件，并被配置成选择性地执行用于检查易失性存储器器件中的存储器单元的测试和用于优化连接在易失性存储器器件和处理器之间的信道的信号完整性的训练。