[发明专利]引导信息处理系统的方法和执行该方法的信息处理系统无效
申请号: | 201110456338.4 | 申请日: | 2011-12-30 |
公开(公告)号: | CN102681868A | 公开(公告)日: | 2012-09-19 |
发明(设计)人: | 李钟旻;崔炯讚;崔熙柱;辛承万 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G06F9/445 | 分类号: | G06F9/445;G06F11/30 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 邵亚丽 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 引导 信息处理 系统 方法 执行 | ||
1.一种对包括在引导操作期间被选择性地测试的易失性存储器器件的信息处理系统进行引导的方法,所述方法包含以下步骤:
从所述信息处理系统读取当前系统配置信息;
把当前系统配置信息与非易失存储器器件中相应的预先存储的系统配置信息进行比较;以及
根据比较结果选择性地执行对易失性存储器器件的测试,其中,选择性地测试的步骤包含以下步骤:
如果当前系统配置信息不和预先存储的系统配置信息匹配,则执行用于检查易失性存储器器件的存储器单元的测试,
把执行用于检查存储器单元的测试的步骤的测试结果存储在非易失性存储器器件中,以及
把当前系统配置信息存储在非易失性存储器器件中。
2.如权利要求1所述的方法,其中,所述信息处理系统包括处理器、电路板和易失性存储器器件作为系统配置。
3.如权利要求1所述的方法,其中,所述易失性存储器器件是多个动态随机存取存储器(DRAM)的存储器模块。
4.如权利要求1所述的方法,其中,所述易失性存储器器件是一个或多个移动动态随机存取存储器(DRAM)。
5.如权利要求3所述的方法,其中,所述存储器模块包括串行存在检测(SPD)存储器的非易失性存储器器件。
6.如权利要求1所述的方法,其中,所述非易失性存储器器件是基本输入输出系统(BIOS)存储器器件。
7.如权利要求5所述的方法,其中,读取当前系统配置信息的步骤包含以下步骤:
从处理器提取处理器的当前序列号;
从BIOS存储器器件提取所述电路板的当前序列号;以及
从所述串行存在检测(SPD)存储器器件提取所述存储器模块的当前序列号。
8.如权利要求1所述的方法,其中,执行用于检查存储器单元的测试的步骤由内置自测逻辑执行。
9.如权利要求1所述的方法,其中,选择性地执行测试的步骤还包含用于优化连接到所述易失性存储器器件的信道的信号完整性的训练步骤。
10.如权利要求9所述的方法,其中,选择性地执行测试的步骤还包含以下步骤:如果当前系统配置信息和相应的存储的系统配置信息匹配,则把预先存储在所述非易失性存储器器件中的测试结果应用于所述信息处理系统而不执行检查存储器单元的测试和用于优化信道的信号完整性的训练。
11.一种对包括易失性存储器器件的信息处理系统进行引导的方法,所述方法包含以下步骤:
监视用于测试易失性存储器器件的触发条件;
如果检测到所述触发条件,则执行用于检查所述易失性存储器器件中的失效存储器单元的测试和用于优化连接到所述易失性存储器器件的信道的信号完整性的训练;以及
如果未检测到所述触发条件,则跳过用于检查失效的存储器单元的测试和用于优化信道的信号完整性的训练,
其中,所述触发条件是系统配置变化、工作温度变化的预定量、先前操作的异常终止、以及在不测试所述易失性存储器设备的情况下连续引导操作的预定数量中的一个或多个。
12.如权利要求11所述的方法,其中,所述系统配置变化是当前引导操作中的处理器、电路板和易失性存储器器件的序列号与存储在所述非易失性存储器器件中的处理器、电路板和易失性存储器设备的序列号的任何变化。
13.如权利要求11所述的方法,其中,工作温度的变化是存储在非易失性存储器器件的工作温度和当前引导操作的工作温度之间的预先确定量的差。
14.如权利要求11所述的方法,其中,异常终止是通过检查指示所述信息处理系统在先前操作中如何终止的终止标志来检测的。
15.如权利要求11所述的方法,还包含以下步骤:
把引导计数和预先确定的连续引导操作的数量进行比较;以及
每次在信息处理系统被引导而在先前引导操作期间未测试易失性存储器器件时,把所述引导计数增加1。
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