[发明专利]适用于吸收光检测和荧光检测的光学检测系统无效

专利信息
申请号: 201110449280.0 申请日: 2011-12-29
公开(公告)号: CN102519881A 公开(公告)日: 2012-06-27
发明(设计)人: 范宏艳 申请(专利权)人: 北京国科华仪科技有限公司
主分类号: G01N21/17 分类号: G01N21/17;G01N21/64
代理公司: 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 代理人: 赵郁军
地址: 100097 北京市海淀区蓝靛厂东路2号*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 适用于 吸收 检测 荧光 光学 系统
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种光学检测系统,具体地说,是涉及一种自动血液分析仪中所使用的、可用来进行吸收光检测、荧光检测的光学检测系统。

背景技术

目前,干式血细胞分析仪对人体血液中的红细胞、白细胞、血小板等含量进行检测时普遍采用离心式原理,即在含有相应的显色剂及荧光物质的检测管中加入待测人体血液,对检测管离心,血液中的不同物质成分实现分层,分别在检测管中分布到相应的区域内,不同区域显示着不同的颜色,从而通过吸收光检测方式以及荧光检测方式来对相应的待检测物质进行定量检测。

但是,在实际实施中发现,目前,没有可同时进行吸收光和荧光检测的设备,吸收光检测、荧光检测各自都需要单独的设备来进行,并且,已有的用于检测吸收光或者荧光的设备都是极其复杂的,另外,对于同一检测管而言,在进行完吸收光检测后,需要将其移动到进行荧光检测的设备上才能进行检测,而检测管被来回移动便会产生定位误差,影响检测结果的准确性,并且,移动需要浪费一定时间,从而吸收光检测与荧光检测不能同时进行,无法对同一时间内的各个待检测物质进行同时检测,无法为研究人员提供各个待检测物质在同一时间所表现出来的状态信息。

发明内容

本发明的目的在于提供一种适用于吸收光检测和荧光检测的光学检测系统,该光学检测系统可进行吸收光检测和荧光检测。

为了实现上述目的,本发明采用了以下技术方案:

一种适用于吸收光检测和荧光检测的光学检测系统,其特征在于:它包括冷光源、第一入射狭缝、第二入射狭缝、第一汇聚透镜、滤光片转换器、第三入射狭缝、光电探测器、卤素灯、第一滤光片和第二汇聚透镜,该冷光源、该第一入射狭缝、该第二入射狭缝、该第一汇聚透镜、该第三入射狭缝、该光电探测器依次同轴设置在X轴上,该第一入射狭缝与该第二入射狭缝之间放置检测管,该第一汇聚透镜与该第三入射狭缝之间设置有该滤光片转换器,该卤素灯、该第一滤光片、该第二汇聚透镜依次同轴设置在Y轴上,其中:

该检测管中装有待检测物质,该待检测物质包括通过吸收光检测方式检测的物质和/或通过荧光检测方式检测的物质;

该X轴与该检测管中通过吸收光检测方式检测的物质相对应设置,该Y轴与该检测管中通过荧光检测方式检测的物质相对应设置,该卤素灯、该第一滤光片、该第二汇聚透镜所处于的Y轴部分与该第二入射狭缝、该第一汇聚透镜、该第三入射狭缝、该光电探测器所处于的X轴部分之间形成一个锐角或直角,在该第二汇聚透镜、该第一滤光片和该卤素灯之中,该第二汇聚透镜距离该检测管最近;

该滤光片转换器上安装有第二滤光片和第三滤光片,其中:当进行吸收光检测时,该滤光片转换器使得该第二滤光片处于该X轴上而与该冷光源、该第一入射狭缝、该第二入射狭缝、该第一汇聚透镜、该第三入射狭缝、该光电探测器同轴设置;当进行荧光检测时,该滤光片转换器使得该第三滤光片处于该X轴上而与该冷光源、该第一入射狭缝、该第二入射狭缝、该第一汇聚透镜、该第三入射狭缝、该光电探测器同轴设置;

该冷光源发出的单色光的波长与该检测管中通过吸收光检测方式检测的物质所能吸收、透射的光的波长相应,该第二滤光片的中心波长与该冷光源发出的单色光的波长相应,该第一滤光片的中心波长与该检测管中通过荧光检测方式检测的物质所需的激发光的波长相应,该第三滤光片的中心波长与该检测管中通过荧光检测方式检测的物质对应激发出的荧光的波长相应。

本发明具有如下优点:

与需要多套复杂光学系统才能进行吸收光和荧光检测相比,本发明的简单光路组成便可实现吸收光和荧光的检测,吸收光检测与荧光检测可前后连续进行,相隔时间极短,可视为吸收光检测与荧光检测同时进行,故可得到反映检测管中通过吸收光检测方式检测的物质以及通过荧光检测方式检测的物质在同一时间内的状态,另外,在先后进行吸收光检测和荧光检测时,检测管不用移动位置,这样便避免了因检测管频繁更换检测位置造成的定位不准所带来的检测误差,使得检测结果准确性大大提高。

附图说明

图1是本发明的组成示意图。

具体实施方式

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