[发明专利]适用于吸收光检测和荧光检测的光学检测系统

权利要求书

1.一种适用于吸收光检测和荧光检测的光学检测系统，其特征在于：它包括冷光源、第一入射狭缝、第二入射狭缝、第一汇聚透镜、滤光片转换器、第三入射狭缝、光电探测器、卤素灯、第一滤光片和第二汇聚透镜，该冷光源、该第一入射狭缝、该第二入射狭缝、该第一汇聚透镜、该第三入射狭缝、该光电探测器依次同轴设置在X轴上，该第一入射狭缝与该第二入射狭缝之间放置检测管，该第一汇聚透镜与该第三入射狭缝之间设置有该滤光片转换器，该卤素灯、该第一滤光片、该第二汇聚透镜依次同轴设置在Y轴上，其中：

该检测管中装有待检测物质，该待检测物质包括通过吸收光检测方式检测的物质和/或通过荧光检测方式检测的物质；

该X轴与该检测管中通过吸收光检测方式检测的物质相对应设置，该Y轴与该检测管中通过荧光检测方式检测的物质相对应设置，该卤素灯、该第一滤光片、该第二汇聚透镜所处于的Y轴部分与该第二入射狭缝、该第一汇聚透镜、该第三入射狭缝、该光电探测器所处于的X轴部分之间形成一个锐角或直角，在该第二汇聚透镜、该第一滤光片和该卤素灯之中，该第二汇聚透镜距离该检测管最近；

该滤光片转换器上安装有第二滤光片和第三滤光片，其中：当进行吸收光检测时，该滤光片转换器使得该第二滤光片处于该X轴上而与该冷光源、该第一入射狭缝、该第二入射狭缝、该第一汇聚透镜、该第三入射狭缝、该光电探测器同轴设置；当进行荧光检测时，该滤光片转换器使得该第三滤光片处于该X轴上而与该冷光源、该第一入射狭缝、该第二入射狭缝、该第一汇聚透镜、该第三入射狭缝、该光电探测器同轴设置；

该冷光源发出的单色光的波长与该检测管中通过吸收光检测方式检测的物质所能吸收、透射的光的波长相应，该第二滤光片的中心波长与该冷光源发出的单色光的波长相应，该第一滤光片的中心波长与该检测管中通过荧光检测方式检测的物质所需的激发光的波长相应，该第三滤光片的中心波长与该检测管中通过荧光检测方式检测的物质对应激发出的荧光的波长相应。

2.如权利要求1所述的光学检测系统，其特征在于：

所述锐角为大于等于30度且小于90度。

3.如权利要求1所述的光学检测系统，其特征在于：

所述第一滤光片、所述第二滤光片、所述第三滤光片为干涉滤光片。

4.如权利要求1所述的光学检测系统，其特征在于：

所述第一入射狭缝、所述第二入射狭缝、所述第三入射狭缝为机械刀口狭缝。

5.如权利要求1所述的光学检测系统，其特征在于：

所述检测管中盛有加入相应显色剂和荧光物质并进行离心分层处理的待测人体血液，所述通过吸收光检测方式检测的物质为待测人体血液中的淋巴细胞，所述通过荧光检测方式检测的物质为待测人体血液中的粒细胞。

6.如权利要求1所述的光学检测系统，其特征在于：

所述滤光片转换器为转盘，该转盘上安装有所述第二滤光片和所述第三滤光片，其中：当进行吸收光检测时，所述第二滤光片通过该转盘上的旋转构件旋转至所述X轴上而与所述冷光源、第一入射狭缝、第二入射狭缝、第一汇聚透镜、第三入射狭缝、光电探测器同轴设置；当进行荧光检测时，所述第三滤光片通过该转盘上的旋转构件旋转至所述X轴上而与所述冷光源、第一入射狭缝、第二入射狭缝、第一汇聚透镜、第三入射狭缝、光电探测器同轴设置。