[发明专利]一种模块的LCD接口的PIN脚测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种PIN脚测试技术，尤其涉及一种LCD接口的PIN脚测试技术。

背景技术

对于模块产品，为了保证模块在出厂之后的质量，就需要在模块出厂之前进行一项测试，即PIN TEST测试。测试的目的就是确保模块的对外引脚的连接性能良好，不会出现PIN脚虚焊或者连焊的问题，从而导致其功能的缺失。

对模块的液晶显示(Liquid Crystal Display，简称“LCD”)接口来说，如果LCD接口中PIN脚的连接有问题，就会导致LCD屏无法显示。LCD接口中，各PIN脚一端与模块主芯片相连，另一端与LCD接口对外的接触点相连。其中，PIN脚与LCD接口对外的接触点之间是否虚焊或者连焊，是肉眼可以观察到的，且对外的接触点之间的距离一般比较大，不易发生虚焊或者连焊的问题，而PIN脚与主芯片的连接点十分密集，仅靠肉眼无法判断其是否正确连接，因此测试模块LCD接口的连接是否良好，主要是测试LCD接口中各PIN脚与模块主芯片的连接是否良好。

测试模块的LCD接口的连接性能是否良好，最常用的方法就在夹具上安装一个LCD屏，然后将模块的LCD引脚连到夹具的LCD屏上面，之后让模块输出一副图片在LCD屏上显示，看LCD屏上的图片是否完整。如果LCD屏上的图片显示完整，则说明模块的LCD接口的连接性能良好；如果LCD屏上的图片显示不完整或者没有图片，则说明模块的LCD接口的连接性能不好，属于有问题的模块，需要检查问题的原因。

上述测试方法比较常用，但会增加一定的成本费用，而且从实际的应用情况来看，由于工厂对夹具的使用比较频繁，LCD屏的使用寿命有限，很容易出现LCD屏损坏的情况。所以就希望有一种方法能够解决这样的问题，在夹具上不需要安装LCD屏就能够实现对模块的LCD接口的连接性能的良好性进行评估，能够判断出该模块的LCD接口中PIN脚与模块主芯片之间是否虚焊或者是连焊，以确保模块的质量。

发明内容

本发明主要解决的技术问题是提供一种模块的LCD接口的PIN脚测试方法，使得无需在模块夹具上安装LCD屏的情况下，能够对模块LCD接口的连接性进行测试。

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种模块的LCD接口的PIN脚测试方法，包含以下步骤：

对于复用为输入输出口的LCD接口，将该LCD接口中、在与模块主芯片相连的一端相邻的两个PIN脚的对外一端连接在一起，分别将两个PIN脚设置为一输入和一输出状态；

主芯片控制各输出状态的PIN脚分别输出一个高或低电平；

主芯片读取各输入状态的PIN脚上的电平值，比较所读取的电平值与该PIN脚所连接的输出状态的PIN脚的输出电平值是否一致，如果一致，则该相连接的一对PIN脚与主芯片的连接良好；如果不一致，则该相连接的一对PIN脚与主芯片的连接异常。

作为上述技术方案的改进，在判定该相连接的一对PIN脚与主芯片的连接良好之前，还包含以下步骤：

主芯片控制各输出状态的PIN脚再次输出一个高或低电平，所输出的电平值与前一次相反；

主芯片读取各输入状态的PIN脚上的电平值，比较所读取的电平值与该PIN脚所连接的输出状态的PIN脚的输出电平值是否一致，如果一致，则该相连接的一对PIN脚与主芯片的连接良好；如果不一致，则该相连接的一对PIN脚与主芯片的连接异常。

作为上述技术方案的改进，在判定该相连接的一对PIN脚与主芯片的连接良好之前，还包含以下步骤：

将相连接的各对PIN脚的输入输出状态交换，主芯片控制各输出状态的PIN脚分别输出一个高或低电平；

主芯片读取各输入状态的PIN脚上的电平值，比较所读取的电平值与该PIN脚所连接的输出状态的PIN脚的输出电平值是否一致，如果一致，则该相连接的一对PIN脚与主芯片的连接良好；如果不一致，则该相连接的一对PIN脚与主芯片的连接异常。

作为上述技术方案的改进，在判定该相连接的一对PIN脚与主芯片连接良好之前，还包含以下步骤：

对于输入输出状态交换后的各对PIN脚，主芯片控制各输出状态的PIN脚再次输出一个高或低电平，所输出的电平值与前一次相反；

主芯片读取各输入状态的PIN脚上的电平值，比较所读取的电平值与该PIN脚所连接的输出状态的PIN脚的输出电平值是否一致，如果一致，则该相连接的一对PIN脚与主芯片的连接良好；如果不一致，则该相连接的一对PIN脚与主芯片的连接异常。