[发明专利]一种模块的LCD接口的PIN脚测试方法

权利要求书

1.一种模块的LCD接口的PIN脚测试方法，其特征在于，包含以下步骤：

判断LCD接口是否可复用为输入输出口；

对于复用为输入输出口的LCD接口，将该LCD接口中、在与模块主芯片相连的一端相邻的两个PIN脚的对外一端连接在一起，分别将两个PIN脚设置为一输入和一输出状态；

所述主芯片控制所述各输出状态的PIN脚分别输出一个高或低电平；

所述主芯片读取所述各输入状态的PIN脚上的电平值，比较所读取的电平值与该PIN脚所连接的输出状态的PIN脚的输出电平值是否一致，如果一致，则所述相连接的一对PIN脚与主芯片的连接良好；如果不一致，则所述相连接的一对PIN脚与主芯片的连接异常；

所述主芯片控制所述各输出状态的PIN脚分别输出一个高或低电平的步骤中，如果所述各输出状态的PIN脚在与主芯片相连的一端相邻，则控制所述相邻的PIN脚输出高低错开的电平；

对于不可复用为输入输出口的LCD接口，在模块主芯片的CPU的LCD功能单元中置入第一预设数据，所述CPU将该第一预设数据以高低电平的形式输出到LCD接口与主芯片连接的各PIN脚上；

所述CPU分别读取各PIN脚上的电平值；

比较从各PIN脚上读取的电平值与输出到该PIN脚的电平值是否一致，如果一致，则该PIN脚与主芯片的连接良好；如果不一致，则该PIN脚与主芯片的连接异常；

所述第一预设数据在各相邻PIN脚上所对应的电平值高低错开，所述相邻PIN脚为所述LCD接口中与主芯片相连的一端相邻的PIN脚；

对于不可复用为输入输出口的LCD接口，在所述LCD功能单元中置入第二预设数据，所述CPU将所述第二预设数据以高低电平的形式输出到所述LCD接口中与主芯片连接的各PIN脚上；所述CPU分别读取各PIN脚上的电平值；

比较从各PIN脚上读取的电平值与输出到该PIN脚的电平值是否一致，如果一致，则该PIN脚与主芯片的连接良好；如果不一致，则该PIN脚与主芯片的连接异常；

所述在LCD功能单元中置入第二预设数据的步骤中，所述第二预设数据在各PIN脚上所对应的高低电平值与所述第一预设数据相反；

所述第二预设数据在各相邻PIN脚上所对应的电平值高低错开。

2.根据权利要求1所述的模块的LCD接口的PIN脚测试方法，其特征在于，在判定所述相连接的一对PIN脚与主芯片的连接良好之前，还包含以下步骤：

所述主芯片控制各输出状态的PIN脚再次输出一个高或低电平，所输出的电平值与前一次相反；

所述主芯片读取所述各输入状态的PIN脚上的电平值，比较所读取的电平值与该PIN脚所连接的输出状态的PIN脚的输出电平值是否一致，如果一致，则所述相连接的一对PIN脚与主芯片的连接良好；如果不一致，则所述相连接的一对PIN脚与主芯片的连接异常。

3.根据权利要求1所述的模块的LCD接口的PIN脚测试方法，其特征在于，在判定所述相连接的一对PIN脚与主芯片的连接良好之前，还包含以下步骤：

将所述相连接的各对PIN脚的输入输出状态交换，所述主芯片控制所述各输出状态的PIN脚分别输出一个高或低电平；

所述主芯片读取所述各输入状态的PIN脚上的电平值，比较所读取的电平值与该PIN脚所连接的输出状态的PIN脚的输出电平值是否一致，如果一致，则所述相连接的一对PIN脚与主芯片的连接良好；如果不一致，则所述相连接的一对PIN脚与主芯片的连接异常。

4.根据权利要求3所述的模块的LCD接口的PIN脚测试方法，其特征在于，在判定所述相连接的一对PIN脚与主芯片连接良好之前，还包含以下步骤：

对于输入输出状态交换后的各对PIN脚，所述主芯片控制各输出状态的PIN脚再次输出一个高或低电平，所输出的电平值与前一次相反；

所述主芯片读取所述各输入状态的PIN脚上的电平值，比较所读取的电平值与该PIN脚所连接的输出状态的PIN脚的输出电平值是否一致，如果一致，则所述相连接的一对PIN脚与主芯片的连接良好；如果不一致，则所述相连接的一对PIN脚与主芯片的连接异常。

5.根据权利要求1至4中任意一项所述的模块的LCD接口的PIN脚测试方法，其特征在于，如果所述LCD接口的PIN脚在与主芯片相连的一端，与至少两个PIN脚相邻，则依次将该PIN脚与所述相邻的PIN脚连接，分别进行所述测试。

6.根据权利要求1所述的模块的LCD接口的PIN脚测试方法，其特征在于，所述CPU分别读取各PIN脚上的电平值的步骤中，所述CPU通过模/数转换功能读取各PIN脚上的电平值。