[发明专利]一种试验参数获取方法和装置有效
| 申请号： | 201110431641.9 | 申请日： | 2011-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN103176060A | 公开（公告）日： | 2013-06-26 |
| 发明（设计）人： | 刘若鹏;季春霖;刘斌 | 申请（专利权）人： | 深圳光启高等理工研究院 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08 |
| 代理公司： | 广州三环专利代理有限公司 44202 | 代理人： | 郝传鑫;熊永强 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 试验 参数 获取 方法 装置 | ||
技术领域
本发明涉及超材料领域，尤其涉及一种试验参数获取方法和装置。
背景技术
在超材料领域，即人工电磁材料设计领域，测量人工电磁材料单元结构体（或称结构单元）的电磁特性，是人工电磁材料设计过程中的一个重要环节。而如何选取一定尺寸的人工电磁材料单元结构体用于电磁仿真测量，又是整个设计过程中必须要解决的问题。
对应单个微结构单元，其结构特点（如，几何形状信息）一般由一组参数描述，参数的取值代表形状的大小。在合理的参数取值范围内，每个参数又对应多个取值水平。为了获得对特定类型微结构单元的电磁响应特征规律，经常需要做大量的实验。如何安排实验，用尽量少的实验次数获得对特定类型结构单元的电磁响应规律，是超材料设计开发中经常会碰到的问题。
现有技术中普遍采用“正交设计法”安排多因素试验，但对于拓扑结构对应的几何参数较多或/和取值水平较多的实验，这类方法需要进行的试验次数太多、耗时太长、所耗资源过于昂贵。
例如对一种‘工’型拓扑结构的超材料单元（如图1所示）进行试验。定义结构形状几何参数为[a，b]， G为几何参数向量，即G=[a，b]。为参数a，b设置相参数水平分别为[0.25， 0.5， 0.75， 1]，[1，2，3，4]时，生成正交表如表1所示。表格有KaiTi_GB2312字体和Times New Roman字体？
表1：正交试验设计表
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