[发明专利]一种试验参数获取方法和装置

权利要求书

1.一种试验参数获取方法，其特征在于，所述方法包括：

根据超材料单元结构体的结构特点选取结构体的结构参数和所述结构参数的参数水平；

根据所述结构参数和所述参数水平基于均匀试验设计策略获取对所述超材料单元结构体的电磁特性进行测量时所使用的均匀试验点组；

根据所述均匀试验点组将所述试验区域划分为多个局部试验分区，其中，所述试验区域为根据所述均匀试验点组中的试验点划分的囊括了所述结构参数的参数水平的所有随机组合形成的试验点的区域；

在所述多个局部试验分区内分别对所述结构参数进行随机采样，获得对所述超材料单元结构体的电磁特性进行测量的随机试验点组；

将所述均匀试验点组和随机试验电组作为对所述超材料单元结构体的电磁特性进行测量的实际试验点组，以便按照所述实际试验点组进行所述超材料单元结构体的电磁特性测量。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述结构特点包括所述超材料单元结构体的几何形状特点，所述结构参数包括所述超材料单元结构体的几何参数，所述结构参数中各参数的参数水平个数相同。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述均匀试验点组涵盖了所有结构参数各自的参数水平信息。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，进行所述随机采样的总采样次数根据对所述超材料单元结构体的电磁特性进行测量的测量能力确定。

5.如权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

按照所述实际试验点组进行所述超材料单元结构体的电磁特性测量。

6.一种试验参数获取装置，其特征在于，所述装置包括：

参数定义模块，用于根据超材料单元结构体的结构特点选取结构体的结构参数和所述结构参数的参数水平；

均匀试验模块，用于根据所述结构参数和所述参数水平基于均匀试验设计策略获取对所述超材料单元结构体的电磁特性进行测量时所使用的均匀试验点组；

试验分区模块，用于根据所述均匀试验点组将所述试验区域划分为多个局部试验分区，其中，所述试验区域为根据所述均匀试验点组中的试验点划分的囊括了所述结构参数的参数水平的所有随机组合形成的试验点的区域；

随机采样模块，用于在所述多个局部试验分区内分别对所述结构参数进行随机采样，获得对所述超材料单元结构体的电磁特性进行测量的随机试验点组；

试验组确定模块，用于将所述均匀试验点组和随机试验电组作为对所述超材料单元结构体的电磁特性进行测量的实际试验点组，以便按照所述实际试验点组进行所述超材料单元结构体的电磁特性测量。

7.如权利要求6所述的装置，其特征在于，所述结构特点包括所述超材料单元结构体的几何形状特点，所述结构参数包括所述超材料单元结构体的几何参数，所述结构参数中各参数的参数水平个数相同。

8.如权利要求7所述的装置，其特征在于，所述均匀试验点组涵盖了所有结构参数各自的参数水平信息。

9.如权利要求8所述的装置，其特征在于，所述随机采样模块进行所述随机采样时，所述随机采样的总采样次数根据对所述超材料单元结构体的电磁特性进行测量的测量能力确定。

10.如权利要求6至9中任一项所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

测量试验模块，用于按照所述实际试验点组进行所述超材料单元结构体的电磁特性测量。