[发明专利]液晶显示装置的检测装置

说明书

技术领域

本发明涉及显示装置领域，特别涉及一种液晶显示装置的检测装置。

背景技术

液晶显示装置具有由矩阵状排列的显示像素构成的有效显示区域，该有效显示区域具有沿显示像素的行方向延伸的多条扫描线以及沿所述显示像素的列方向延伸的多条数据线。在这些扫描线与数据线的相交部分设置有开关元件以及与所述开关元件连接的像素电极，所述开关元件例如是薄膜晶体管(开关元件)，所述开关元件能够响应提供给每条扫描线的信号并将来自数据线的信号发送给对应的每个像素电极。这些扫描线和数据线引出到有效显示区域的外围部分(例如将引出的扫描线和数据线与驱动电路连接)，通过在外围部分输入测试信号来检测有效显示区域所显示出来画面的品质。这些扫描线、数据线以及其它的电路连接线通常统称为信号线。

由于随着显示像素的增加，在有效显示区域及其外围部分的扫描线和数据线等各种信号线的线宽越来越细，而且间隔越来越小，因此断线、短路等各种布线不良的情况也越来越多。因此，为了及时发现布线不良的情况，防止大规模不良发生以及不良品流入下一工序造成材料的浪费，在布线之后需要对扫描线、数据线以及其它的信号线进行检查，从而判断是否存在布线不良的情况。

目前，常用的一种液晶显示装置的检测装置包括若干短路棒(Shorting bar)，利用所述短路棒分别将各信号线短路连接在一起，并在所述短路棒上输入测试信号，再通过相应的元件将所述测试信号传输到有效显示区域的扫描线及数据线上，进而检测有效显示区域所显示出来画面的品质。

具体请参考图1，其为现有液晶显示装置的检测装置的俯视示意图。如图1所示，检测装置10包括：三根短路棒101-1、101-2、101-3，六根信号线102-1、102-2、102-3、102-4、102-5、102-6，每根信号线通过接接触孔103及连接金属(未图示)与其中一根短路棒电连接。在此，所述短路棒101-1、101-2、101-3利用形成液晶显示装置的扫描线及栅极的G金属层形成，各短路棒之间通过后续形成的栅绝缘层予以隔离，所述信号线通过形成液晶显示装置的源极/漏极的S/D金属层形成，因此短路棒需要通过接触孔103与信号线电连接。详细的，所述接触孔103包括接触孔103-1和103-2，例如，短路棒101-1的接触孔103-2与信号线102-4的接触孔103-1通过连接金属(未图示)电连接，从而使短路棒101-1与信号线102-4连接，其它短路棒和信号线的连接方式也与此类似。所述连接金属一般为氧化铟锡(ITO)或者氧化铟锌(IZO)。

在液晶显示器的制造工艺过程中，经常会在短路棒101-1、101-2、101-3上聚集大量静电，易于将接触孔103处的ITO或IZO烧毁，这种接触孔缺陷不仅使检测装置功能失效，而且使得电性测试不能进行，就会认为阵列基板出现不良现象，为避免阵列基板流入到下一制造流程可能导致材料的浪费，因此产品会做报废处理。

发明内容

本发明的目的在于提供一种液晶显示装置的检测装置，以解决现有技术中液晶显示装置的检测装置易于积聚大量静电，从而造成各种破坏的问题。

为解决上述技术问题，本发明提供一种液晶显示装置的检测装置，包括：

多根短路棒，所述多根短路棒之间通过半导体材料层连接；

多根信号线，每根信号线与其中一根短路棒电连接。

可选的，在所述的液晶显示装置的检测装置中，所述半导体材料层为非晶硅层或者多晶硅层。

可选的，在所述的液晶显示装置的检测装置中，所述多根短路棒位于半导体材料层的下层。

可选的，在所述的液晶显示装置的检测装置中，所述液晶显示装置包括TFT器件，所述TFT器件为底栅结构，从下至上依次包括：栅极、栅极绝缘层、有源层、源极/漏极。

可选的，在所述的液晶显示装置的检测装置中，所述半导体材料层和所述有源层为同一材料，并且是在同一工艺步骤中形成的。

可选的，在所述的液晶显示装置的检测装置中，所述短路棒和所述栅极为同一材料，并且是在同一工艺步骤中形成的。

可选的，在所述的液晶显示装置的检测装置中，所述多根短路棒位于半导体材料层的上层。

可选的，在所述的液晶显示装置的检测装置中，所述液晶显示装置包括TFT器件，所述TFT器件为底栅结构，从下至上依次包括：栅极、栅极绝缘层、有源层、源极/漏极。

可选的，在所述的液晶显示装置的检测装置中，所述短路棒和所述源极/漏极为同一材料，并且是在同一工艺步骤中形成的。