[发明专利]液晶显示装置的检测装置

权利要求书

1.一种液晶显示装置的检测装置，其特征在于，包括：

多根短路棒，分别与液晶显示装置的信号线电连接；

所述多根短路棒之间通过半导体材料层连接。

2.如权利要求1所述的液晶显示装置的检测装置，其特征在于，所述半导体材料层为非晶硅层或者多晶硅层。

3.如权利要求1所述的液晶显示装置的检测装置，其特征在于，所述多根短路棒位于半导体材料层的下层。

4.如权利要求3所述的液晶显示装置的检测装置，其特征在于，所述液晶显示装置包括TFT器件，所述TFT器件为底栅结构，从下至上依次包括：栅极、栅极绝缘层、有源层、源极/漏极。

5.如权利要求4所述的液晶显示装置的检测装置，其特征在于，所述短路棒和所述栅极为同一材料，并且是在同一工艺步骤中形成；所述半导体材料层和所述有源层为同一材料，并且是在同一工艺步骤中形成。

6.如权利要求5所述的液晶显示装置的检测装置，其特征在于，所述信号线为扫描线，通过透明导电层将所述扫描线跨接至所述短路棒。

7.如权利要求5所述的液晶显示装置的检测装置，其特征在于，所述信号线为数据线，通过透明导电层将所述数据线跨接至所述短路棒。

8.如权利要求1所述的液晶显示装置的检测装置，其特征在于，所述多根短路棒位于半导体材料层的上层。

9.如权利要求8所述的液晶显示装置的检测装置，其特征在于，所述液晶显示装置包括TFT器件，所述TFT器件为底栅结构，从下至上依次包括：栅极、栅极绝缘层、有源层、源极/漏极。

10.如权利要求9所述的液晶显示装置的检测装置，其特征在于，所述半导体材料层和所述有源层为同一材料，并且是在同一工艺步骤中形成；所述短路棒和所述源极/漏极为同一材料，并且是在同一工艺步骤中形成的。

11.如权利要求10所述的液晶显示装置的检测装置，其特征在于，所述信号线为扫描线，通过透明导电层将所述扫描线跨接至所述短路棒。

12.如权利要求10所述的液晶显示装置的检测装置，其特征在于，所述信号线为数据线，通过透明导电层将所述数据线跨接至所述短路棒。

13.如权利要求1所述的液晶显示装置的检测装置，其特征在于，位于两根短路棒之间、且位于连接信号线与短路棒的透明导电层正下方的区域，不设置半导体材料层。

14.如权利要求6、7、11、12中的任一项所述的液晶显示装置的检测装置，其特征在于，所述透明导电层通过接触孔分别与短路棒及数据线或者扫描线电连接。

15.如权利要求7或12任一所述的液晶显示装置的检测装置，其特征在于，控制同种颜色像素的数据线连接至同一短路棒。