[发明专利]多通道半导体装置和包括该装置的显示装置

说明书

本申请要求2010年11月24日提交的第10-2010-0117520号韩国专利申请的优先权，该申请的主题通过引用合并于此。

技术领域

发明构思总体上涉及半导体装置和显示装置。更具体地，发明构思涉及一种多通道半导体装置和包括该多通道半导体装置的显示装置。

背景技术

显示驱动器集成电路(DDI)是将图像信号提供到显示面板的半导体装置。DDI通常使用用于并行地输出图像信号的多个输出通道(例如，720个通道)，所述多个输出通道可将相对高的吞吐量提供给显示面板以用于高效的刷新率。

为了确保DDI正确运行，通常在商业部署之前对所有的输出通道执行测试。执行这些测试所需的时间和精力常常影响DDI的价格，因此以高效的时间和成本的方式执行这些测试是有益处的。

一种提高测试效率的方式是通过设计具有用于测试的单独的输出焊盘(pad)的半导体装置来进行的。在确定半导体装置是否正常运行的测试期间监测这些测试焊盘。虽然这些附加测试焊盘可提高测试性能，但是它们也具有在半导体装置上占用额外的空间的缺点。这在包括若干输出通道的半导体装置中会是一个显著的问题，这是因为包括多个输出通道的半导体装置需要大量的输出焊盘(这会占用过多的空间)。

发明内容

在一个实施例中，一种多通道半导体装置包括：多个缓冲器组，每个缓冲器组包括至少一个输出缓冲器；多个焊盘组，每个焊盘组包括至少一个输出焊盘；通道切换部分，控制所述多个缓冲器组与所述多个焊盘组之间的连接。所述焊盘组中的一个焊盘组在第一操作模式中输出缓冲器组中的一个缓冲器组的输出信号，并在第二操作模式中连续输出所有缓冲器组的输出信号。

在另一实施例中，一种多通道半导体装置包括多个输出通道，其中，所述多个输出通道中的每一个输出通道包括：输出焊盘；输出缓冲器，产生输出信号；第一开关，控制输出缓冲器与输出焊盘之间的连接；第二开关，控制输出焊盘与N个公共节点中的相应的公共节点之间的连接。所述多个输出通道被划分为多个组，每个组包括至少一个输出通道，所述多个组中的一个组的输出焊盘在多通道半导体装置的测试模式下连续输出多个组的输出信号。

在另一实施例中，一种显示装置包括显示面板和显示驱动器集成电路。所述显示驱动器集成电路包括：多个缓冲器组，每个缓冲器组包括多个输出缓冲器；多个焊盘组，每个焊盘组包括至少一个输出焊盘，所述至少一个输出焊盘被配置用于将图像数据发送到显示面板；通道切换部分，控制所述多个缓冲器组与所述多个焊盘组之间的连接。所述多个焊盘组中的一个焊盘组在第一操作模式中输出所述缓冲器组中的一个缓冲器组的输出信号，并在第二操作模式中连续输出所有缓冲器组的输出信号。

与传统多通道半导体装置相比，这些和其它实施例可允许对具有较少输出焊盘的多通道半导体装置执行测试操作。

附图说明

附图示出发明构思的选择的实施例。在附图中，相似的标号指示相似的特征。

图1是示出根据发明构思的实施例的包括多个输出通道的多通道半导体装置的框图。

图2是示出根据发明构思的实施例的图1中示出的通道切换部分的示例的框图。

图3是示出根据发明构思的实施例的图1中用于控制通道切换部分的控制部分的框图。

图4是示出图1的多通道半导体装置的一个示例的框图。

图5是示出根据发明构思的实施例的图4的多通道半导体装置的操作的时序图。

图6是示出根据发明构思的实施例的在图5的方法的时间段T_A期间图4的多通道半导体装置的操作状态的示图。

图7是示出根据发明构思的实施例的在图5的方法的时间段T_B期间图4的多通道半导体装置的操作状态的示图。

图8是示出根据发明构思的实施例的在图5的方法的时间段T_C期间图4的多通道半导体装置的操作状态的示图。

图9是示出图1的多通道半导体装置的另一示例的框图。

图10是示出图1的多通道半导体装置的另一示例的框图。

图11是示出根据发明构思的另一实施例的多通道半导体装置的框图。

图12是示出根据发明构思的实施例的用于驱动显示面板的半导体装置的框图。

图13是示出根据发明构思的实施例的显示装置的框图。

具体实施方式

以下，参照附图来描述发明构思的实施例。这些实施例被表现为教导示例，并且不应被解释为限制发明构思的范围。