[发明专利]一种校正质谱仪器和/或分子质量的方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种校正质谱仪器和/或分子质量的方法。

背景技术

凡利用质谱进行物质质量测定，均需对仪器进行校正。为获得物质的精确质量，在进行仪器校正之后，还需要利用加内标技术，随时对物质进行质量比较测定，以减少质谱测定中对物质质量的非线性响应以及环境温度变化等的影响。已知，质谱仪器温度的微小变化，就可以导致ppm级别的质量测定偏差。所以质量校正是质谱测定中的核心步骤。到目前为止，质谱校正均采用标准化学物质，其中常用的标准物有聚乙烯醇(PEG)、标准肽和CsI等。目前，实用的标准物非常有限，价格昂贵，特别是它们多含有同位素峰。同位素峰容易导致峰分离不开或峰变形，结果是校正不准。理论上理想的质量校正用标准物质应该是没有同位素峰，且便宜易得或制备容易。目前能符合这种要求的化学物质很少，金簇恰好是这样的一类物质，并已有人尝试过，但因受现有技术的限制，制备和使用金簇均存在困难，所以没有获得成功。

发明内容

本发明的目的是提供一种简便、有效的校正质谱仪器和/或分子质量的方法。

本发明提供的校正质谱仪器和/或分子质量的方法，包括如下步骤：在基底上蒸镀金膜，在所述质谱仪器中用激光轰击所述金膜；或者在所述金膜上涂覆基质、待测样品或基质与待测样品的混合物后，在所述质谱仪器中用激光轰击所述涂覆待测样品的金膜、涂覆所述基质的金膜或涂覆所述基质与待测样品的混合物的金膜，将得到的离子经所述质谱仪器分析得到质谱谱图，根据金簇的理论质量即可对质谱仪器和/或待测样品的分子质量进行校正。

上述的方法中，所述的基底可以是平滑的固体表面如载玻片、粗糙固体表面如毛玻璃和具有特殊周期结构的固体表明如光子晶体。

上述的方法中，所述光子晶体可以是二氧化硅光子晶体或聚苯乙烯光子晶体，所述光子晶体可通过自组装或其他方法组装在所述基底上。

上述的方法中，所述金膜可经真空喷镀或湿法沉积制备，厚度在10nm～1000nm之间，金膜上可滴加或不滴加化学复制基质，尺寸大小可依据质谱仪器进行调整或切割。

上述的方法中，所述质谱仪器包含任何含有能引入金簇离子接口的商品质谱仪器和其他质量测定系统，特别是向大气开放的接口，如基质辅助激光解析飞行时间质谱仪(MALDI-TOF MS)、(基质辅助激光解析傅立叶变换离子回旋共振质谱仪MALDI-FTICR MS)等。

上述的方法中，所述激光可为脉冲激光，包括氮分子激光、紫外半导体脉冲激光等，频率为在2～30Hz之间，具体可为10Hz、20Hz或30Hz，功率为最大功率的80％～100％之间，具体可为80％、90％或100％。

上述的方法中，所述基质可为2，5-二羟基苯甲酸(DHB)、α-氰基-4-羟基肉桂酸(CCA)或3-氨基喹啉(3-AQ)、2-(4-羟基苯唑)苯甲酸(HABA)以及其他对激光有吸收的化学分子。

本发明提供的方法可以分别进行正和负电荷校正；由于利用了没有同位素的金簇，可以记录到一系列质荷比相差197的离子峰，再利用金的准确的理论质量，可以准确标定质谱仪器信号和样品的分子质量，其偏差可以降到5ppm以下；该方法用于MALDI-TOF MS校正中可以校准和消除由于操作条件的波动而对分析结果产生的影响，提高分析的准确性；在MALDI-TOF MS的反射模式中，利用金簇先做外标校正，再用做内标校正，可避免分子量的漂移，使得样品的峰值更加准确。该校正方法所用的金膜标靶可以重复使用，大大降低了成本。

附图说明

图1为实施例1中裸金膜产生的金簇正离子峰及质谱仪器校正。

图2为实施例1中金簇正离子峰作为外标进行校正的结果。

图3为实施例2中金簇正离子峰作为内标进行校正的结果。

图4为实施例3中裸金膜产生的金簇的负离子峰及质谱仪器校正。

图5为实施例3中金簇负离子峰作为外标进行校正的结果。

图6为实施例4中金簇负离子峰作为内标进行校正的结果。

图7为实施例5中DHB辅助金膜产生的金簇正离子峰质谱图。

图8为实施例5中金簇正离子峰作为外标进行校正的结果。

图9为实施例6中金簇正离子峰作为内标进行校正的结果。

图10为实施例7中CCA辅助金膜产生的金簇的负离子峰质谱图。

图11为实施例7中金簇负离子峰作为外标进行校正的结果。

图12为实施例8中金簇负离子峰作为内标进行校正的结果。

具体实施方式

下述实施例中所使用的实验方法如无特殊说明，均为常规方法。