[发明专利]一种校正质谱仪器和/或分子质量的方法

权利要求书

1.一种校正质谱仪器和/或分子质量的方法，包括如下步骤：在基底上蒸镀金膜，在所述质谱仪器中用激光轰击所述金膜；或者在所述金膜上涂覆基质、待测样品或基质与待测样品的混合物后，在所述质谱仪器中用激光轰击所述涂覆待测样品的金膜、涂覆所述基质的金膜或涂覆所述基质与待测样品的混合物的金膜，将得到的离子经所述质谱仪器分析得到质谱谱图，根据金簇的理论质量即可对质谱仪器和/或待测样品的分子质量进行校正。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述基底为载玻片、毛玻璃或光子晶体。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于：所述光子晶体为二氧化硅光子晶体或聚苯乙烯光子晶体。

4.根据权利要求1-3中任一所述的方法，其特征在于：所述金膜的厚度为10～1000nm。

5.根据权利要求1-4中任一所述的方法，其特征在于：所述质谱仪器为MALDI-TOF质谱仪或MALDI-FTICR质谱仪。

6.根据权利要求1-5中任一所述的方法，其特征在于：所述激光为脉冲激光，所述脉冲激光的频率为2～30Hz，功率为所述脉冲激光的最大功率的80％～100％。

7.根据权利要求1-6中任一所述的方法，其特征在于：所述基质为2，5-二羟基苯甲酸、α-氰基-4-羟基肉桂酸或3-氨基喹啉或2-(4-羟基苯唑)苯甲酸。