[发明专利]适用于安全气囊控制器的高低温老化测试设备及其方法

权利要求书

1.适用于安全气囊控制器的高低温老化测试设备及其方法，其特征在于，该设备可置于一具有特定温度范围的高低温测试室中实现对安全气囊控制器的检测。所述高低温老化测试设备包括一机架及设于所述机架上的若干测试板，所述机架与待测安全气囊控制器相连接，其中，所述测试板包括：核心控制模块、防浪涌模块、负载电路模块和加速度传感器模块，所述测试板上设有若干模拟传感器和若干与所述模拟传感器相连接的负载。

2.根据权利要求1所述的高低温老化测试设备及其方法，其特征在于，所述测试板通过软件可以模拟BCM(车身控制模块)、ABS(刹车防抱死系统)、EMS(发动机管理系统)以及IPK(仪表系统)以得到相关测试结果。

3.根据权利要求1所述的高低温老化测试设备及其方法，其特征在于，所述负载包括起爆电阻(squib resistance)、安全带提醒器(Seat Belt Reminder)、驾驶员位置传感器(Driver Position Sensor)、乘客位置传感器(Passenger Position Sensor)。

4.根据权利要求1所述的高低温老化测试设备及其方法，其特征在于，所述核心控制模块包括PIC单片机控制电路、CAN通信模块和KLINE模块。

5.根据权利要求4所述的高低温老化测试设备及其方法，其特征在于，所述的PIC单片机控制电路采用增强闪光微控制器PIC18F2408作为核心控制芯片。

6.根据权利要求4所述的高低温老化测试设备及其方法，其特征在于，所述CAN通信模块采用高速CAN收发器MCP2551，所述的KLINE模块采用单边总线收发器SI9241AEY。

7.根据权利要求4所述的高低温老化测试设备及其方法，其特征在于，所述防浪涌模块采用TVS瞬态抑制二极管SMAJ15A。

8.根据权利要求1所述的高低温老化测试设备及其方法，其特征在于，加速度传感器模块包括若干加速度计Saguaro，所述的加速度计是ASIC芯片，用于测试加速度信息。