[发明专利]对聚焦光学系统聚焦光斑尺寸测量的装置及其使用方法无效

专利信息
申请号: 201110352127.6 申请日: 2011-11-09
公开(公告)号: CN102507156A 公开(公告)日: 2012-06-20
发明(设计)人: 王春慧;田爱玲;王红军;刘丙才 申请(专利权)人: 西安工业大学
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 西安新思维专利商标事务所有限公司 61114 代理人: 黄秦芳
地址: 710032*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 聚焦 光学系统 光斑 尺寸 测量 装置 及其 使用方法
【权利要求书】:

1.一种对聚焦光学系统聚焦光斑尺寸测量的装置,其特征在于:包括准直激光光源(1)、反射与透射切换单元(2)、分光镜(3)、聚光镜(4)、光功率探测器(5)、第一直线运动单元(6)、第二直线运动单元(7)、双缝(9)、聚焦透镜(10)、CCD相机(11)、计算机(12),其中准直激光光源(1)、分光镜(3)、反射与透射切换单元(2)、双缝(9)、聚焦透镜(10)、CCD相机(11)共光路依次设置,反射与透射切换单元(2)设置于第一直线运动单元(6)上, 双缝(9)和聚焦透镜(10)设置于第二直线运动单元(7)上, 所述分光镜(3)的反射光路上依次设置有聚光镜(4)和光功率探测器(5),光功率探测器(5)、直线运动单元(6)、第二直线运动单元(7)、CCD相机(11)均与计算机(12)连接。

2.根据权利要求1所述的一种对聚焦光学系统聚焦光斑尺寸测量的装置,其特征在于:上述装置的测量方法,依次包括下述步骤:

将被测透镜(8)设置在分光镜(3)与反射与透射切换单元(2)之间,激光器(1)发出的准直激光经过被测透镜聚焦为一定尺度的光斑,使透反射切换单元(2)工作在反射状态,并利用第一直线运动单元(6)和第二直线运动单元(7)所带有的计数功能记录反射面(12)当前位置A1及双缝(9)当前位置B1;

计算控制单元12驱动第一直线运动单元(6),带动反射面(12),沿光轴方向从透镜(8)焦后推扫到焦前;反射光经分光镜(3)后,由聚光镜(4)聚焦到光功率探测器(5),并由计算机(12)记录反射面在不同位置时的光功率值;

通过计算分析确定功率曲线顶点位置对应的反射面位置A2,使透反射切换单元2工作在透射状态;

计算机(12)驱动直线运动单元(7)沿光轴方向做前后推扫运动,CCD相机采集不同推扫位置的干涉花样;利用计算机(12)对采集到的干涉花样进行滤波去噪处理,分析计算双缝在不同位置所采集的干涉花样的对比度,绘制对比度变化曲线;利用计算机(12)分析对比度变化曲线,计算曲线在不同推扫位置对应的斜率,将原对比度曲线分为斜率变化区及斜率固定区,并确定两个区域的交点B2;

被测透镜(8)的聚焦光斑与双缝(9)之间的距离为:

L = ︱︱B2-B1︱-︱A2-A1︱︱

所选用的双缝的间距为d,激光光源的波长为λ,则被测聚焦光斑的直径D为:

D = λ*L/d。

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