[发明专利]用于待测功率器件的零安培电平电流数据校正有效
| 申请号: | 201110336772.9 | 申请日: | 2011-10-21 |
| 公开(公告)号: | CN102645567A | 公开(公告)日: | 2012-08-22 |
| 发明(设计)人: | T·米亚扎基 | 申请(专利权)人: | 特克特朗尼克公司 |
| 主分类号: | G01R15/18 | 分类号: | G01R15/18 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 李湘;王忠忠 |
| 地址: | 美国俄*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 功率 器件 安培 电平 电流 数据 校正 | ||
1.一种用于校正表示来自待测器件的电流信号的电流数据样本的方法,包括步骤:
利用耦联至所述待测器件的电流传感器接收所述电流信号并产生表示来自所述待测器件的所述电流信号的电流数据样本;
利用电压探针接收与来自所述待测器件的所述电流信号对应的电压信号并产生表示所述电压信号的电压数据样本;
提取表示所述电流数据样本与零安培电平的偏差的电流波动数据样本,所述电流波动数据样本与所述待测器件的关断周期对应,通过在所述电压数据样本中检测所述待测器件相应的关断周期得到所述待测器件的关断周期;
内插所述待测器件的所述关断周期的所述电流波动数据样本,用于产生与所述待测器件的导通周期对应的电流波动数据样本;
从表示所述电流信号的所述电流数据样本减去与所述待测器件的所述关断周期和导通周期对应的所述电流波动数据样本,以产生校正的零安培电平电流数据样本;以及
利用所述校正的零安培电平电流数据样本产生波形显示。
2.根据权利要求1所述的用于校正表示来自待测器件的电流信号的电流数据样本的方法,还包括步骤:
指定围绕所述校正的零安培电平电流数据样本的零安培电平的误差抵消范围;以及
通过将在所述误差抵消范围内的所述校正的零安培电平电流数据样本变成零来修改所述校正的零安培电平电流数据样本。
3.一种用于校正表示来自待测器件的电流信号的电流数据样本的设备,包括:
第一采集电路系统,其接收来自所述待测器件的所述电流信号并产生表示所述电流信号的电流数据样本;
第二采集电路系统,其接收来自所述待测器件的、与所述电流信号对应的电压信号并产生表示所述电压信号的电压数据样本;以及
控制器,其接收所述电流数据样本和电压数据样本并提取表示所述电流数据样本与零安培电平的偏差的电流波动数据,所述电流波动数据样本与所述待测器件的关断周期对应,通过在所述电压数据样本中检测所述待测器件相应的关断周期得到所述待测器件的关断周期,通过内插与所述待测器件的所述关断周期对应的所述电流波动数据样本产生与所述待测器件的导通周期对应的电流波动数据样本,从表示所述电流信号的电流数据样本减去与所述待测器件的所述关断周期和所述导通周期对应的所述电流波动数据样本以产生校正的零安培电平电流数据样本,和利用所述校正的零安培电平电流数据样本产生波形显示。
4.根据权利要求3所述的用于校正表示来自待测器件的电流信号的电流数据样本的设备,还包括用户接口,用于为检测所述待测器件中的所述关断周期而指定所述电压数据样本的阈值电压电平。
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